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X射线能谱仪
X射线能谱仪概述

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②省统考未涉及的专业,考生可按照省招办要求直接参加我院组织的校考。14所高职院校开展3+2技术技能型人才联合培养试点。

X射线能谱仪进行成分分析时,一般有三种基本的工作方式,分别为:定点分析、线扫、面扫。根据不同的测试目的,可以选择相应的分析模式。当测试样品为非均质样品时,可以使用线扫、面扫得到非常直观的结果。X射线能谱仪主要用途:1.表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯.2.维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式)3.线扫瞄或面扫瞄以得到线或面上的元素或化学态分布.4.成像功能.5.可进行样品的原位处理 6.可进行深度分析适合:纳米薄膜材料,微电子材料,催化剂,摩擦化学,高分子材料的表面和界面研究。

分析仪器

X射线能谱仪技术资料

X射线能谱仪解决方案

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供应天瑞仪器EDX1800B

供应天瑞仪器EDX1800B

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: EDX1800B
  • 产地:苏州
  • 国内第一家研发生产rohs检测仪的厂家,也是国内唯一一家上市的rohs检测仪生产厂家,专业检测环保rohs指令,rohs六项卤素分析一体机,同时可以拓展检测镀层厚度,合金成分等全元素分析仪器

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天瑞rohs无卤检测仪

天瑞rohs无卤检测仪

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: EDX1800E
  • 产地:苏州
  • 江苏天瑞仪器股份有限优德w88研发生产的新一代环保rohs卤素分析仪,应用世界最先进的SDD探测器,配备大功率X光管,测试精度更高,稳定性更好,一键操作,无损检测,测试速度快是企业工厂应对环保rohs指令管控,对产品和原材料进行管控的最佳选择。

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X射线透射电镜能谱仪(EDS)

X射线透射电镜能谱仪(EDS)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Apollo XLT SDD
  • 产地:美国
  • TEAM 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器,为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口(SUTW)和无窗口(XLTW)两种型号。由于可以完整地传输低能X射线,Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比,其轻元素的测量灵敏度提高了500%,重元素的计数率增加了30%,从而大大提高了元素面分布的采集速度,增强了低含量轻元素的检测。特点和好处所有电子部件均集成在探测器内,方便安装、服务、校准和远程访问自动校准程序实现快速、可重复、准确设置,校准数据驻留于探测器上,远程访问时无需重新校准紧凑型的探测器提供了安装的灵活性,适合于各种TEM30 mm2SDD芯片技术,优化了立体角超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能,C分辨率均优于59 eVMn 的分辨率优于129 eV直到100 kcps,分辨率稳定性都小于1 eV峰位偏移直至250 kcps 都小于1 eV放大器时间常数从120 ns 到7.65 s 可选,便于获得最佳采集效果高速以太网通信当背散射电子过量时由马达控制自动缩回针对TEM薄样品的定量算法Apollo XLT SDD 系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内,取消了单独的数据采集机箱,简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计,提高了性能,方便了远程访问,用户可以通过以太网线接入,消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM TEM 能谱仪的核心。智能化已经植入探测器,为探测器提供最好的保护,防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时,探头能够自动缩回至一个安全的位置,而无需用户人工干预,从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候,通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问,以便进行快速、准确的评估。TEAM 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面,可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何,每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素,监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD 系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备,采用了TEAM 智能软件,是 TEM 上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品,进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM 智能软件自动化的工作流程,革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何,TEAM 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD 系列探测器结合TEAM 智能软件,为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

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Thermo Ns7 X射线能谱仪

Thermo Ns7 X射线能谱仪

  • 品牌: 北京驰奔
  • 型号: Ns7
  • 产地:美国
  • Thermo Scientific&asterisk; NORAN System 7 第七代 X 射线能谱仪能够使分析人员在最短时间内获得可靠的分析结果。仅需按下按钮,打印报告。所有过程自动完成。Thermo Scientific NORAN System 7 为现代电子显微镜实验室提供最高的微区分析能力:可提供最高灵敏度的 X 射线探测器、最高通量的脉冲处理器和数字成像技术以及最先进的软件包。拥用这些功能的NORAN System 7 能谱仪在短短数秒内即可产生准确的分析结果。能谱分析利用基于规则的识别和峰形去卷积方法,快速准确识别元素峰SpectraCheck 技术可利用谱图模拟和比较规则提供重叠谱峰和表示拟和优度的卡方值,通过目测和统计方式确认元素的存在元素峰参考提供通过典型 EDS 系统采集得到的完整能谱峰形集这些峰形的强度会自动校正以匹配显微镜检测器无需定期根据标准来校正系统采用 PROZA Phi-Rho-Z 基体校正算法“一键式”模式集成电子成像和 X 射线分析只需单击鼠标即可对所选感兴趣区域进行元素识别和定量分析利用点、矩形、圆、多边形或使用魔术棒工具确定样品区域利用魔术棒工具可轻松选取复杂区域,无需手动绘制边框只需点击一次即可基于灰度值自动作出选择瞬时分析所选区域或选择多区域进行同时分析根据所选设置进行处理能够提供所需能谱结果--具有完整标准的定性分析到定量分析全谱元素图像采集每一点处的能谱图--对成像、X 射线面分布、线扫描和高级自动化分析非常有用NORAN System 7 能够采集可进行重复分析的数据,无需重新采集或更改采集参数--只需点击一次即可在显微镜本地分析采集数据,或将数据离线复制至另一台计算机制作报告自动提取分析软件允许实验室中的所有人员执行相同的分析并获得一致的结果采用功能强大的多变量统计算法,由 Paul Kotula 等人创建并由 Sandia国家实验室授权采用高级算法,在数据仍被采集时Direct-to-Phase软件能够提取并显示已知相允许 EDS 系统决定合适采集到足够的统计数据,或可视化正在建立的数据Direct-to-Phase软件同时进行数据分析和数据采集 - 实时相分析速度不仅在分布图和谱图中显示元素数据,还能生成信息丰富的样品组成图--生成完整数据的速度比当前X 射线微区分析技术快10倍

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EDAX TEAM? 能谱仪(SEM)

EDAX TEAM? 能谱仪(SEM)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Octane Pro, Plus, Super,Ultra
  • 产地:美国
  • TEAMTM 扫描电镜能谱仪集强大的元素分析例程及直观易用的用户界面于一体,确保不同层次用户都能够获得最佳的数据采集、分析及报告。TEAMTM 软件中的智能功能(Smart Features)使工作流程更加简单和方便,同时优化了数据质量,帮助用户快速高效地解决他们的表征问题。主要特点● 直观易用的TEAMTM 软件● 无论用户经验如何,智能功能均可保证一致的数据采集、分析及报告● 提高工作效率,减少分析时间● 灵活的动态报告和自定义的报告模板产品规格TEAMTM 能谱软件包● 智能诊断● 智能采集● 专家峰识别(ExpertID)● 智能面分布● 智能数据管理● 智能脉冲堆积校正能谱探测器● Octane Pro, Plus, Super,Ultra● 分辨率可达121eV● 分辨率稳定性直到200kcps>90%● 高达1.6Mcps的输入计数率及850kcps的输出计数率● SDD模块面积可大到100mm2更多信息请访问www.edax.com.cn

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EDAX TEAM? 能谱仪(TEM)

EDAX TEAM? 能谱仪(TEM)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Apollo XLT
  • 产地:美国
  • 配Apollo XLT硅漂移(SDD)探测器系列的TEAMTM 能谱(EDS)分析系统为透射电镜(TEM)应用提供了终极的分析方案。该系列探测器包括超薄窗口(SUTW) Apollo XLT及无窗口Apollo XLTW两种型号。 Apollo XLT SDD系列探测器融合了最新的SDD技术及EDAX下一代高效电子系统,提供了卓越的性能。系统的电子部件内置于探测器,取消了单独的电子盒,减小了系统占用空间,提高了灵活性和方便性。所有通讯均通过以太网,高速方便,并增强了故障排查能力。主要特点● 超薄窗口(SUTW)和无窗口两个版本为用户提供超群的轻元素性能。● 信号处理卡内置于探测器,方便远程访问、安装、维护和校准。● 直观易用的TEAM软件● 无论用户经验如何,智能功能(Smart Features)可确保一致的数据采集、分析及报告● 探测器完全自动伸缩,确保操作安全产品规格● 优化固体角的30mm2 SDD芯片技术● SUTW和无窗口探测器,超群的轻元素性能,对C的典型分辨率优于59eV● MnKa分辨率优于129ev,依据ISO15632:201标准● 分辨率稳定度<1eV,在计数率高达100kCPS条件下● 峰偏移<1eV,在计数率高达250kcps下● 可选的时间常数从120nS到7.68uS,以优化数据采集更多信息请访问www.edax.com.cn

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EDAX TEAM? 波谱仪

EDAX TEAM? 波谱仪

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: LEXS, TEXS
  • 产地:美国
  • TEAMTM WDS分析系统具有TEAMTM软件的直观易用和波谱仪(WDS)的分析能力,为不同层次的用户提供了终极的分辨率和痕迹元素分析。TEAMTM WDS的智能功能优化探测器设置,自动采集数据,并与TEAMTM EDS高度集成,为用户提供高效准确的结果。易于操作● 3点击工作流程:从开始、分析到分开重叠峰● 用户配置可定制参数和设置● 高级用户设置的完全访问和控制智能功能● 智能诊断监视显示探测器参数,确保最佳的数据和最准确的结果● 自动WDS利用TEAMTM EDS的Expert ID创建WDS分析扫描列表,对样品中元素自动进行峰扫描● 智能聚焦自动程序准确地将SEM载物台定位于光学焦平面,保证最高射线强度● 智能数据管理直观灵活的数据管理系统使工作有条不紊主要特点● 智能聚焦(Smart Focus)完全自动设置,确保最佳WDS分析条件● 智能功能确保数据采集、分析和报告的一致性,不依赖操作者的经验水平● TEAMTM分析系统提供EDS到WDS分析的无缝切换● EDS和WDS数据同步采集,提供最大的工作效率和高效的工作流程● 3点击工作流程,从开始分析到最终报告产品规格TEAMTM WDS 软件包● 自动WDS● 智能聚焦● 智能诊断● 智能数据管理● 智能定量分析WDS探测器● 兼容LEXS和TEXS谱仪● 紧凑型设计便于安装在标准EDS端口● 操作范围: 80eV至2.4KeV(LEXS)和150eV至10keV(TEXS)● 标配5块分光晶体,适合任何应用更多信息请访问www.edax.com.cn

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EDAX TEAM? Pegasus(EDS-EBSD)

EDAX TEAM? Pegasus(EDS-EBSD)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Pegasus
  • 产地:美国
  • 集成了EDAX技术领先的EDS系统和EBSD系统,可同时表征材料的化学成分和晶体结构,可同步收集EDS数据和EBSD数据,进行准确的单相和多相分析,解决了单个技术不能研究的问题。更多信息请访问www.edax.com.cn

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EDAX TEAM? Neptune(EDS-WDS)

EDAX TEAM? Neptune(EDS-WDS)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Neptune
  • 产地:美国
  • 结合了EDS的强大功能及灵活性和WDS的高分辨率、高精确度及检测极限,提供了更全面的化学分析,拓展了X射线显微分析能力。更多信息请访问www.edax.com.cn

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EDAX TEAM? Trident(EDS-EBSD-WDS)

EDAX TEAM? Trident(EDS-EBSD-WDS)

  • 品牌: 美国EDAX
  • 型号: Trident
  • 产地:美国
  • 融合了最新的EDS、EBSD和WDS技术,是终极的材料表征工具,可以解决以前不能解决的问题。这种优化配置不仅可以提供各自表征技术的最佳性能,而且提供了综合表征能力,提供了全面的材料洞察力。更多信息请访问www.edax.com.cn

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应力测定仪

应力测定仪

  • 品牌:
  • 型号: TK-360型
  • 产地:
  • X射线应力测定仪一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》,能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力(用“ + ”、“ - ”号分别表示拉、压应力), 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程(如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理)制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作,又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷; 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何,是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计,提高工艺效果,检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合,于此列举如下事例: 在现代机械工程中,由于焊接技术的进展,使许多巨大金属机构的制造成为可能,但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题,它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上,对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件,以及航空、航天、核工业的有关设备,各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力,传统的热时效方法还在普遍采用,而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然,检测构件时效前后,特别是振动时效前后各部位残余应力的变化,对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度,材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言,这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此,无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目,用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明,应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中,因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件,残余应力是正或是负,以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因,就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性,也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处,测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中,X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟,方法完善,经历了七十余年的进程,在国内外广泛应用于机械工程和材料科学,取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置,因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件,而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响,这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理: X射线应力测定仪测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时,会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值(即所谓衍射峰),这便是X射线衍射现象(如左图所示)。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律: 2d Sinθ=n λ (n=1,2,3……) 在已知X射线波长λ的条件下,布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时,其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化,按照布拉格定律,衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释: 众所周知,对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说,在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒, 其中必有许多晶粒,其指定的(h k l)晶面平行于试样表面,晶面法线与表面法线夹角ψ为0;也必有许多晶粒,其(h k l)晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先,如图A所示,以试样表面某点(o点)法线为轴,将一束适当波长的X光和探测器(计数管)对称地指向该点O,并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律,可以找到平行于试样表面的(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面,衍射晶面的法线必在扫描平面内,并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住,此时扫描平面与试样表面垂直,衍射晶面与试样表面平行,ψ=0(如图B)。然后,扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角(如图C),同样也可以得到(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ,这时,衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ(如图D)。 图A 图 B 图 C 图 D 在无应力状态下,对于同一族晶面(h k l)来说,无论它居何方位,即无论ψ角等于何值,晶面间距d均相等;根据布拉格定律,相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时,譬如沿图中OX方向存在拉应力,则平行于表面(即ψ=0)的(h k l)晶面,其间距d会因泊松比的关系而缩小(见图B);随着ψ角的增大,晶面间距d会因拉应力的作用而增大(见图D)。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律,d 变小,则2θ变大;d 变大,则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料,在平面应力状况下,依据布拉格定律和弹性理论可以导出,应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M,即σ=KM ????2θ M= ??Sin2 ψ式中K为应力常数, E π K = Ctgθ0 ? 2(1+μ) 180式中E为杨氏模量,μ为泊松比,θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料,K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样,测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。X射线应力测定仪三、仪器结构: 本仪器主机由以下五部分组成:PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器,以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV~30kV电压,通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描,二者各前进一个 θ,则衍射角改变 2θ,故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中,衍射晶面法线保持不动,准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上,衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中,且处在与试样表面垂直的平面里。这样,可以直观地看出,当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时,该平面与试样表面之夹角就是Ψ角衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪,其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件,运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构,均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点,便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°,在采用了吸盘之后,旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点: X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性;从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法,后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来,即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说,不论衍射峰是否漫散,它的背底都不会倾斜,峰形基本对称,而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化(如图所示)。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识:侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而,除了国产X-350A型以外,迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说,虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法,但是由于仪器机构和功能的限制,总会伴随诸多困难和麻烦,更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号:98244375.7)。我优德w88具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下: 1、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计,使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素;另外,又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主,实现理想的测量方法;同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围:120°~170°,在侧倾法的条件下,测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外,还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性,特别是对于齿轮的齿根部位。 2、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中,X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点,三者随时同处在一个聚焦圆上,当然,随着扫描过程,聚焦圆的大小是逐步变化的。 3、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°~170°, 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰,无需另外安装延长扫描范围的附件,测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定,以便探测织构的影响。必要时,可以做到残奥含量和残余应力同时测定,亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能,对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 4、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构,这样即可测定主应力的大小及其方向,测定剪切应力。 5、应用PC微电脑,Windows 环境操作,界面友好,使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件,丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告;根据用户要求,还可以生成英文版实验报告。 6、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 7、为X光管配置高压开关电源,最大功率30KV×10mA,稳定度优于0.1% 。 8、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。应力测定仪五、主要技术参数:★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描最小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg最简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz

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X射线能谱仪

X射线能谱仪

  • 品牌:
  • 型号: INCA X-MAX
  • 产地:英国
  • 牛津仪器独特的外部PentaFET技术和圆型SDD晶体的结合,第一款适合定量分析的分析型电制冷能谱.分辨率高,体积小巧,性能稳定,分析速度是液氮制冷能谱的10倍。且无需风扇及循环水制冷,无需添加液氮。 超大面积能谱探头有效面积为20mm2,同等条件下,信号的强度为传统的10mm2的2倍,进一步显示了SDD的速度优势。同等的计数率时,需要的电镜束流为10mm2的1/2,大大提高了能谱的空间分辨率,对于微区的分析非常有利 技术参数 窗口,20mm2大面积活区; 在MnKα处的分辨率:优于129eV (计数率1,000-100,000cps); 稳定性: 1,000cps100,000cps 谱峰漂移<1eV,分辨率变化<1eV,48小时内谱峰漂移<1eV (Mn Ka) 峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka) 分析元素范围:Be4-Pu94 圆形SDD晶体 高性能,低噪声,独立封装FET场效应管 两级电子制冷 不用时无需通电,即热循环设计 专利的探测器自动优化功能,确保轻元素性能长期优良; 专利的X-sight电荷复位技术;

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布鲁克XSense WDS 波谱仪

布鲁克XSense WDS 波谱仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: 布鲁克XSense WDS 波谱仪
  • 产地:德国
  • 配备 XSense 光谱仪的全新 QUANTAX WDS系统可实现高分辨率 X 射线显微分析。在低能量范围内提供最高灵敏度自对准光学器件保证最佳测量条件通过压控正比计数器实现可靠采集设置简单且测量启动快速可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一软件中敢为人先!QUANTAX WDS具有结构紧凑的谱仪设计。采用最新探测器技术的高精度仪器,拥有难以匹敌的优势:精密的自动光学中心定位系统正比计数器配备独特的气体流量和压强控制系统无畸变非磁性光学装置完全马达驱动的高级运动机构与EDS无缝集成的软件系统 本系统具有许多基于人性化设计的自动化特征使得XSense易于操作从而将用户从单调且耗时的仪器调节工作中解放出来:无需人工干预自动实现完美的光学中心对准自动选择合适的分析晶体正比计数器气体流量和探测器设置

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布鲁克X射线能谱仪EDS QUANTAX

布鲁克X射线能谱仪EDS QUANTAX

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Bruker EDS QUANTAX
  • 产地:德国
  • QUANTAX EDS 系统拥有最佳能量分辨率、最大数据处理能力及最佳几何结构。最佳能量分辨率可确保轻元素和低能量的高效分析新一代 Slim-line 探测器技术能在低束流下实现更高的计数率超高数据处理能力实现最快速测量可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一软件中敢为人先! X射线显微分析是一种在电子显微镜中经常用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。该技术应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至Be的所有元素。该技术从一个微米级的样品区域获得元素信息,提供低至0.1%质量百分数的检出限,这些特性使得X射线显微分析成为最灵敏的分析方法之一。 布鲁克电制冷能谱仪独一无二的X-Flash硅漂移探测器(SDD)与顶级的Hybrid脉冲处理技术相结合能获得最佳的能量分辨率和比常规Si(Li)探测器快十倍的测量速度。 布鲁克电制冷能谱仪配有界面友好、功能强大的ESPRIT软件。该软件标配中、英文界面。应用该软件可进行无标样定量分析,和有标准定量分析,或二种方法结合使用。另外,还可进行点、线、面分析,线扫描,面分布,超级面分布,相分析,颗粒分析,钢铁分析,枪击残留物分析等等。QUANTAXESPRIT软件包 直观的图形用户界面显示了所有对分析者而言重要的信息,分析人员一目了然,并可以立即进入最常用的功能。简单的操作理念和直观的向导,集成的"助手"功能,完整的在线帮助,使初学者能很快熟悉分析系统。 该软件交互式、循序渐进式的谱图评价程序对分析者而言尤其重要,尤其是对于非常复杂的分析任务来说。而且,该软件包集成了全球最新修订扩展的原子数据库,一些重要的基本参数有助于提高定性和定量分析的精度。该分析软件的高效性、灵活性和透明性使用户能很快信服并对之满意。

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NS7 X射线能谱仪(电制冷)

NS7 X射线能谱仪(电制冷)

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: NS7
  • 产地:美国
  • 仪器简介:X射线微区能谱仪利用电镜电子束和样品相互作用,激发出的样品内元素原子的特征X射线,探测器接收后,通过测量特征X射线的能量,进行样品化学成分的定性,通过统计信号强度,与标准样品获得的曲线拟合,或者与数据库中的虚拟标准样品曲线进行拟合,从而进行样品化学成分精确定量。 NS7型x射线微区分析能谱仪能够在电镜图像中每个像素点都获得元素的精确成分信息,从而获得定量面分布信息。 ThermoFisher 能谱仪的制造,可追述到上个世纪60年代,从能谱仪的商品化以来,其软硬件技术一直处于世界领导地位。 ThermoFisher追求性能卓越和稳定可靠,使得NS系列能谱仪,在不同的时代均处于市场的核心地位,为真正的材料科学家们所信赖。技术参数:一、探测器有两种晶体类型可选 1、SDD硅漂移晶体 半导体电制冷探测器 晶体面积 10mm2,30mm2, 40mm2,50mm2, 可选择 分析元素范围:Be4 - U92 能量分辨率优于 Mn Ka: 132eV for SEM (安装现场实测值最好可达125ev), 134eV 138eV for TEM 20000:1 峰背比 轻元素探测灵敏度高 探测器可长期保持优秀的分辨率,体现Thermofisher作为能谱制造领导者的长期可靠性。 随时可以开关,开机10分钟内即可使用,具有探测器安全保护程序。 适配各种型号的扫描电镜和透射电镜 2、Si(Li)晶体(锂漂移)液氮制冷探测器。 晶体面积:10mm2,30mm2, 40mm2,50mm2, 可选择 分析元素范围:Be4 - Fm100 能量分辨率优于Mn Ka: 132eV for SEM (安装现场实测值最好可达125ev), 134eV 138eV for TEM 20000:1 峰背比 良好的轻元素探测灵敏度,对高能量X射线探测效率优于SDD晶体探测器。避免谱峰过分重叠造成的灵敏度下降。 探测器可长期保持优秀的分辨率,体现Thermofisher作为能谱制造领导者的长期可靠性。 随时可以开关,开机10分钟内即可使用,具有探测器安全保护程序。 适配各种型号的扫描电镜和透射电镜 二、软硬件系统 高集成度,高稳定性的系统 全新的高速数字脉冲处理器,每秒可处理超过1000,000个计数 能谱仪功能自动化 便捷、灵活的分析软件,易于掌握 高速的全谱图像技术,一次收集,无需二次采集 独具专利的化合物成分提取软件 Windows XP 操作系统平台 100% Thermo 硬件和软件 项目文件夹管理模式,便于数据管理主要特点:Thermo Scientific NORAN系统7能谱分析系统为现代电子显微学实验室提供了终极的微区分析手段:高灵敏度的X-射线探测器,高通量的全数字脉冲处理器和数字图像,丰富、强大的软件功能。这使得NORAN系统7能在分秒之间即提供准确的结果,将使你乐于你的试验工作。 应用基准数据库识别和谱峰去卷积技术,可以快速、准确地将谱峰自动识别 全谱图像彻底改变了X-射线面分布。对图像的每个像素点都要采集一个谱图,然后进行X-射线面分布,线扫描以及高级的自动分析。轻轻一点,NORAN系统7就可以对全谱图像的数据进行任意数量的元素面分布,和定量的元素面分布,任意路径的线扫描,任意区域的能谱分析,而不需要重复采集或改变采集参数。一旦采集了全谱图像数据,可以选择在能谱仪上或者其他的计算机上离线分析数据,得出所需要的分析报告。

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MagnaRay X射线波谱仪

MagnaRay X射线波谱仪

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: MagnaRay
  • 产地:美国
  • 仪器简介:MagnaRay卓越性能: 智能型专家分析、采集自动控制,无需用户为分析参数费神! 实现5KV, 束斑<10nm的纳米材料痕量元素应用分析! 低电压、低束流条件分析,有效降低样品损伤! 独有的轻元素窗口密封的氙气计数器,提高低能量的探测率! 独特的混合光学设计,高、低能段具有相同的灵敏度! 与能谱软件无缝整合,波谱/能谱一体化分析!技术参数:MagnaRay卓越性能: 智能型专家分析、采集自动控制,无需用户为分析参数费神! 实现5KV, 束斑<10nm的纳米材料痕量元素应用分析! 低电压、低束流条件分析,有效降低样品损伤! 独有的轻元素窗口密封的氙气计数器,提高低能量的探测率! 独特的混合光学设计,高、低能段具有相同的灵敏度! 与能谱软件无缝整合,波谱/能谱一体化分析!主要特点:MAXray 的扫描范围为 90 eV 至 10 keV 可以在场发射扫描电镜上使用 为了达到最佳聚焦,所有的衍射晶体都是平面的,不会因像差而降低信号强度 由于 MAXray使X射线转变为平行光束, 它和样品与衍射晶体之间的距离无关,因为没有距离L1,所以也不会降低强度 MAXray对轻元素的灵敏度又比传统的 WDS高数十倍以上

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IXRF X射线能谱仪

IXRF X射线能谱仪

  • 品牌:
  • 型号: SDD探测器
  • 产地:美国
  •   IXRF电制冷能谱仪提供多种规格的探头和性能可靠的脉冲处理器,软件功能强大完备,免费升级。  IXRF电制冷探测器与具有创新性的、基于以太网的数字脉冲处理器相结合后,在探测范围上更加具有优势。根据用户的不同需求来进行配置,IXRF SDD探测器能够在一个较大的输入计数率范围内快速生成X射线图,并且性能稳定。SDD探测器既可以作为EDS的探头,也可以作为XRF的探头。窗口材料的选择为铍(8微米)或聚合物薄膜(轻元素),探测器有效面积有10mm2、30mm2、60 mm2,100mm2四种。处理器8档时间常数可选,4096通道,以太网2.0接口,并且3年保修。能谱探测器技术指标:

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江苏天瑞环保rohs测试仪EDX1800E

江苏天瑞环保rohs测试仪EDX1800E

  • 品牌: 江苏天瑞
  • 型号: EDX1800B
  • 产地:苏州
  • 采用世界上最好的SDD硅漂移探测器,分辨率为最低可达到139ev,能更好的检测卤素(氯、溴)等非金属元素。

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RadEye NL便携式中子测量仪

RadEye NL便携式中子测量仪

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: RadEye NL
  • 产地:美国
  • RadEye NL便携式中子测量仪,采用He-3计数管,对于低于10 mSv/h的γ辐射不敏感,可在γ/中子混合场中测量中子辐射。灵敏度高,可快速响应,可用作区域监测,符合国际标准ISO 22188,快速测量中子辐射,误报警率低。可选中子剂量慢化配件。 探测器:He-3计数管(2.5bar)灵敏度:-0.15cps/(μSv/h)(对Cf-252)本底:在海拔300米-0.0025cpsγ响应:<0.2cps,(对于10mSv/h的Cs-137辐射)测量单位:Cps

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