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轮廓仪
轮廓仪概述

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  学校将以“允理允能、精益求精”为校训,以“施优教服务人民”为办学宗旨,坚持“以学生发展为本”、坚持“三个相信”的教育理念(即相信每个学生都是向善的、相信每个学生都是可塑的、相信每个学生都能够成才),努力把学校建设成为一所以临床医学、护理学、口腔医学为基础学科,以医学影像、药学为特色学科的应用型本科医学院校。与此同时,该省还印发了关于加强学校食品安全应急管理工作的通知,要求各地、各校高度重视、切实做好学校食品安全应急管理工作。

轮廓仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器,轮廓仪作为精密测量仪器在汽车制造和铁路行业的应用十分广泛。轮廓仪主要优点是可以直接测量某些难以测量到的零件表面,如孔、槽等的表面粗糙度,又能直接按某种评定标准读数或是描绘出表面轮廓曲线的形状,且测量速度快、结果可靠、操作方便。轮廓仪广泛应用于机械加工、电机、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间。可测轴承、滚针、滚子、电机轴、曲轴、圆柱销、活塞销、活塞、气门、阀门、齿轮、油泵油嘴、液压件、气动件、纺机配件等。

测量计量仪器

轮廓仪技术资料

轮廓仪解决方案

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美国泽伊塔三维轮廓仪

美国泽伊塔三维轮廓仪

  • 品牌: 美国泽伊塔
  • 型号: Zeta-20
  • 产地:美国
  • 卓越的三维成像和测量 基于ZDot?专利技术,Zeta-20可以对近乎所有材料和结构进行成像分析,从超光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。Zeta-20使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求,所有硬件安装和操作都简单易用。

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美国泽伊塔轮廓仪

美国泽伊塔轮廓仪

  • 品牌: 美国泽伊塔
  • 型号: Zeta-300
  • 产地:美国
  • 基于ZDotTM点阵专利技术的3D光学轮廓仪 Zeta独创的ZDotTM点阵专利技术是测量各种复杂表面形貌的理想选择,包括透明的多层结构、低反射率、低对比度、高粗糙度或高度落差很大的表面结构,除此之外,ZDot在测量高纵横比的孔和沟时更是有着无与伦比的效果。ZDotTM点阵专利技术提供了最大可能高效的光路设计,其Z向精确的光学测量是白光干涉仪和激光共聚焦显微镜所不能达到的。强大卓越的测量能力加之内置集成的防震设施以及精简美观的机械结构使得Zeta-300成为了所有研究及生产相关应用领域最完美的解决方案。

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瑞士W+B试验机现代化升级

瑞士W+B试验机现代化升级

  • 品牌: 瑞士W+B
  • 型号: LFM/V
  • 产地:北京
  • W+B提供不同水平制造商生产的所有类型试验机的现代化升级,升级后的试验系统,生产效率和可靠性会明显提高,也不管试验机是液压还是电力驱动的,我们均可用最先进的数字控制器及在个人电脑上运行的万能材料试验软件包DION代替过时的控制系统,从而完成系统的现代化 升级。标准化设计的W+B现代化系统通常由数字控制器、测量系统、新液压能源或新电力机械驱动系统,现有编码传感器更新后的新传感器,以及材料试验软件包组成。我们能够考虑到通过增加生产效率的测量装置,来实现测试系统的现代化升级。

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多功能摩擦磨损试验机

多功能摩擦磨损试验机

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: UT-3000
  • 产地:北京
  • 多功能摩擦磨损测试

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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪

光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: NANOMAP D
  • 产地:美国
  • NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology优德w88主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面,技术最先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术,无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸,一组m×n图像可以被缝合放大任何倍率,在高分辨率下创造一个大的视场,并获得所有的被测参数。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。随着微细加工技术的不断进步,微电路、微光学元件、微机械以及其它各种微结构不断出现,对微结构表面形貌测量系统的需求越发迫切, NanoMap-D所具备的双模式组合,结合了白光干涉非接触测量及SPM扫描探针高精度扫描成像于一体,克服了光学测量及扫描探针接触式的局限性,并具有操作方便等优点成功地保证了其在半导体器件,光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域的领先地位。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪经过广泛严格的检测,确保其作为测量仪器的标准性和权威性,并保证设备的各种功能完好,各个部件发挥出色。用NIST标准可以方便快捷地校验系统的精度,所校准用的标样为获得美国国家标准局( NIST) 的计量单位的认可。NanoMap-D配备的软件提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪主要功能及应用:多种测量功能精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。薄/厚膜材料薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合,可测量沟槽深度形貌。材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性分析软件可轻易计算40多种的表面参数,包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。表面光滑度和曲率可从测量结果中计算曲率或区域曲率薄膜二维应力测量薄膜应力,能帮助优化工艺,防止破裂和黏附问题表面结构和尺寸分析无论是二维面积中的坡度和光滑度,波纹度和粗糙度,还是三维体积中的峰值数分布和承载比,本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。缺陷分析和评价先进的功能性检测表面特征,表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征,能在扫描的中心被定位和居中,从而优化缺陷评价和分析。

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Contour Elite三维光学显微镜

Contour Elite三维光学显微镜

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: Contour Elite
  • 产地:美国
  • 可信计量、逼真成像、清晰结果 逼真成像与可信测量数据的结合简易直观的操作界面提供良好的用户体验更快速地解决复杂研究和生产要求下的各种挑战布鲁克Contour Elite?三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上,进一步增强Vision64?软件的用户易用性,创新性加入全新的成像软硬件,拓展高保真成像能力。在要求极高的研发、质量控制领域,Contour Elite?可为用户提供高速、准确和重复性极佳的测量结果。同时,它为用户提供在通常共聚焦显微镜下能得到的成像与显示效果,如彩色影像等。建立在Wyko?专有白光干涉仪基础上,历经三十多年软硬件的积累与创新,布鲁克Contour Elite系统提供了直观可视化的操作界面,丰富的用户自定义方式,自动化程序控制功能,以及最快速、广泛适用的表面三维形貌的高保真成像与准确测量,来保证各种领域研发、生产应用的测试需求。 Contour Elite K高稳定性,具备一定防震性能设计的桌面式型号  Contour Elite I全自动,有集成防震垫设计的桌面式型号 Contour Elite X全自动,集成落地式防震台的型号

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Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: ContourGT
  • 产地:德国
  • ContourGT 非接触3D光学轮廓仪 ContourGT表面计量系列产品用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪业界最高垂直分辨率极高的可靠性和最好的测量重复性最高的表面测量和分析速度最强的使用性,操作简便,分析功能强大30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰ContourGT系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能0.5倍至200倍的放大倍率,在极宽的测量范围内,对样品表面形状和纹理进行表征。任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。高分辨率摄像头可选配件,提高了横向分辨率和GR&R测量的重复性。多核处理器下运行的Vision64? 软件,大大提高三维表面测量和分析速度新的软件设计使数据处理速度提高几十倍。多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。无以伦比的无缝拼接能力,可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图像  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性,测量准确度和重复性。高度直观的用户界面,拥有业界最强的操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程,从而提高仪器和操作者效率独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项用户可自行设置数据输出的界面 三十年技术创新,迎来第十代全新产品我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术(VSI模式),扫描头倾斜调整,专利的自动校准和双LED照明等革新技术。ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能,又在硬件上进行了大量的改进,从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的,将近三十年的优越性能运行跟踪记录,从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。 ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。OMM结合了Bruker专利的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场目镜,以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能最大化。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证绝对的精确度和卓越的重复性。Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。辅助操作灯泡*塔台自动样品台倾斜调整支架*自校准功能*光学计量模块(OMM)卓越的震动隔离性能*

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DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

DektakXT探针式表面轮廓仪/台阶仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DektakXT
  • 产地:美国
  • DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。DektakXT 完美设计探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和最佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素,达到最佳的仪器使用效果。强化操作的可重复性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在设计上的几个提高,使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可以到达5?.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时,Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善,提高其稳定性,降低温度变化对它的影响,并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到最低,DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用,大大降低了扫描台的噪音,增强了稳定性,使其成为一个极具竞争力的台阶仪(表面轮廓仪)。提高数据采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用独特的直接扫描平台,DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间,来提高扫描效率。这一改进,大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下,可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面,简化了实验操作设置,可以自动完成多扫描模式,使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。完善的操作和分析系统 PerfectingOperationand Analysis与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面,具备智能结构,可视化的使用流程,以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求,快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。DektakXT 技术参数—台阶高度重复性5?—Single-arch设计大大提高了扫描稳定性—前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰—新的硬件配置使数据采集能力提高了40%—64-bit,这一Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。功能卓越,操作简易—直观的Vision64用户界面操作流程简便易行—针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位—布鲁克的台阶仪,体积轻巧,功能强大。—单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围

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探针式轮廓仪/三维形貌仪

探针式轮廓仪/三维形貌仪

  • 品牌: 美国AEP
  • 型号: NANOMAP 500LS
  • 产地:美国
  • NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology优德w88主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点 常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合。双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图。 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。 针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力接触。 简单的2步关键操作,友好的软件操作界面。应用 三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 薄膜和厚膜的台阶高度测量。 划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量。 空间分析和表面纹理表征。 平面度和曲率测量。 二维薄膜应力测量。 微电子表面分析和MEMS表征。 表面质量和缺陷检测。

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APEX压痕划痕仪

APEX压痕划痕仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: APEX
  • 产地:美国
  • 布鲁克多功能的纳米机械测试仪平台,CETR-Apex,配备了6个易互换的机械压头,高放大倍数的显微镜和成像模块(AFM和三维光学轮廓仪)。2分钟内即可实现不同模块之间的互换。 六种机械压头 纳米压痕压头—用来测量超薄涂层尤其是纳米级涂层以及块体材料的硬度,杨氏模量等(样品表面需较为光滑,以确保数据可靠性,)纳米划痕压头—主要用于纳米级超薄涂层的厚度测量(DLC,ALD、太阳能薄膜,ITO薄膜和光学涂层等)微米压痕压头 —仪器的微米压痕压头用于较厚涂层和块体材料的硬度和杨氏模量等机械性能测量。 微米划痕压头—主要用于较厚涂层的微米级划痕测量(PVD,CVD、油漆、装饰涂料等)。毫米划痕压头 —用于宏观尺度的划痕测量。 纳米、微米级摩擦学压头 —用于薄膜、涂层以及块体材料的摩擦磨损测量、静态/动态摩擦学测量、耐用度、附着力,粘滑性等机械性能测量。 CETR-Apex检测特性 & 技术优势 配备隔热罩、隔音罩以及防震台 三板电容传感以超高精确度检测样品摩擦学性质的变化 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面,检测效率高,重复性好  用户自定义数据分析算法或分析模型,精确检测材料机械性能 符合ASTM, DIN和ISO的所有检测标准 划痕测试选项 自定义划痕轨迹(锯齿形、线形、螺旋形、旋转形) 自动聚焦显微镜可实现自动划痕 全景成像,可以观测到整个沟槽的信息 可同时获得划痕的完整图像以及摩擦学、声学发射信号、沟槽深度、材料力度等各种机械性能信息 改进操作窗口,包括:整幅图像的缩进、拉出、采集图像和分析数据同步显示 纳米摩擦磨损测试选项 可随意更换线性或旋转驱动 可以自定义选择测试环境的温度、湿度及气体浓度 任意选择从极低到极高的测试速度 超低负载——精确控制负载、测试速度和样品定位,所得测试数据具有极高的重复性 专利技术传感器满足X、Y和Z轴同时驱动进行摩擦磨损测试 进行摩擦、磨损、粘滞力、粘滑性等多种测试纳米模块 NH随着纳米科技和薄膜技术的发展(太阳能电池,cvd、pvd、dlc、MEMS等),纳米尺度的机械性能测试趋向标准化。纳米机械性能测试在传统测试基础上有了很大改进,通过设计高宽径比的探针测试更深更窄的沟槽,还实现低负载,高空间分辨以及原位负载-位移数据精确测量。 纳米压痕 — 参照ISO14577认证标准,选取单点/多点压痕来测量薄膜、涂层和块体材料的硬度、杨氏模量、张力、应力(冯米塞斯应力,von Mises stresses)和接触强度/刚度等。 纳米划痕 – 在接触模式下,可根据用户自定义不断增加负载,检测薄膜、涂层和块体材料的划痕硬度和划痕黏附力。 动态压痕 - 通过探针动态测量方法,检测深度依赖性损失以及存储模量。NH特性 电磁驱动传感器 三板电容传感以超高精确度检测样品摩擦学性质变化 针尖几何形状为berkovich、球体、或者立方隅角的压痕检测器 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面 可选择线性成像(推荐AFM功能) 检测效率高,重复性好 可选择先进的原位传感器 配备隔热罩、隔音罩以及防震台 符合ASTM, DIN和ISO的所有检测标准微米模块 MH微米机械性能测试已经被应用于检测涂层和块体材料的各种机械性能。微米机械性能测试仪大大优于传统测试方法,可以实现原位负载数据精确替换、应用类似声学发射检测、ECR、摩擦检测等信号来获得更多机械性能信息。 仪器化微米压痕检测——参照ISO14577认证标准,在毫米尺度(应用超过2牛的负载)以及微米尺度(低于2牛的负载)下检测涂层和块体材料的硬度、杨氏模量、张力、应力(冯米塞斯应力,von Mises stresses)和接触强度/刚度等。 传统维氏硬度和努普硬度  参照ASTM E384.99认证标准,测量微米尺度的材料硬度。 微米划痕 —在接触的模式下,可根据用户自定义不断增加负载,检测薄膜、涂层和块体材料的划痕硬度和划痕黏附力。MH特性 电磁驱动传感器 三板电容传感以超高精确度检测位移 针尖几何形状为berkovich、球体、或立方隅角的压痕检测器 微纳压痕检测信息图案化,信息完整全面 可选择线性成像(推荐3D轮廓仪)检测效率高,重复性好 选择先进的原位传感器 用户自定义数据分析算法或分析模型,精确检测材料机械性能 符合 ASTM, DIN和ISO的所有检测标准

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smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪

smartWLI Prime白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: smartWLI Prime
  • 产地:德国
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SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪

SmartWLI-Double Z-axis双轴三维形貌轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI-Prime Double Z-axis
  • 产地:德国
  • SmartWLI-Prime双轴三维形貌轮廓仪配备0.1nm高分辨率的小量程Z轴和小于100nm分辨率的大量程Z轴 2015年11月,德国WinWinTec优德w88再次向市场推出了一款由我优德w88代理的SmartWLI品牌的三维相貌轮廓仪,该产品将两种Z轴方向的移动控制模式整合在一起,是两种模式一体化,可以实现两种Z轴移动模式的自由切换,测量范围从nm水平到mm水平,实现纳米分辨率到亚微米分辨率,可测量不同类型的产品,适用于大轮廓形貌到微小形貌的多种应用需求。v产品特点 1.两种Z轴移动控制模式,压电陶瓷马达控制小量程和步进电机控制大量程,整体测量范围实现0.1nm~100mm; 2.小量程Z轴实现最大400um的测量范围,测量分辨率在PSI模式下0.1nm; 3.大量程Z轴实现最大100mm的测量范围,测量分辨率小于100nm; 4.Z轴方向移动的实现自动控制,通过相关软件和控制手柄可自动对焦,同时Z轴采用自动拼接技术,实现整体全自动测量; 5.标配压电陶瓷马达控制的Z轴测量头,样品垂直方向测量最大高度:400um,测量分辨率PSI模式:0.1nm,VSI模式:1nm; 6.可选配不同放大倍数的标准干涉物镜(2.5X,5X,10X,20X,50X,100X);配置控制和快速采集信号采集软件SmartWLI_VIS。

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SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

SmartWLI 传统二维光学显微镜三维轮廓/形貌扫描升级方案

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI - Microscope
  • 产地:德国
  • SmartWLI传统光学显微镜升级技术 亚纳米级分辨率白光干涉技术与三维表面形貌测量传统二维光学显微镜可以升级为三维表面形貌测量装置,极大提升应用效能。图1.干涉物镜通过接合器安装于传统光学显微镜,升级后的显微镜具备高分辨三维表面形貌测量功能显微镜的重要性不只在于研究与记录,更在于产品质量监测与样品表面分析。光学显微镜已经成为许多实验室的标配设备。对于大多数样品来说,传统二维显微镜不足以获得其表面所有形貌细节。因此,三维表面形貌测量技术正逐渐成为一种重要的表征手段。 图2. 金属表面二维、三维测量结果比较 其典型应用领域包括不同表面粗糙度试样的三维表面形貌观察(如晶片结构,镜面,玻璃,金属),台阶高度测定和曲面精确测量(如微型透镜)。当前,许多研究机构都有三维表面形貌测量设备的采购需求。但事实上,只要满足下列条件,世界上多数知名品牌的传统光学显微镜都可以升级为高精度三维表面形貌测量设备:* 无限远、中间像光学系统;* 反射明场照明系统;* CCD摄像头接口;* 可更换物镜的镜筒位于德国Ilmenau的GBS优德w88已经成功利用其SmartWLI显微镜升级技术为蔡司、尼康、莱卡、奥林巴斯等众多品牌的传统光学显微镜完成升级工作。其基本原理为白光干涉一种成熟的三维表面形貌测量方法,测量精度可以达到亚纳米量级。同传统的单色光干涉技术大为不同,SmartWLI白光干涉技术采用相干长度达到2um的宽频带光。实际测量必须深入相干区域扫描,每隔70-80nm取样。而单色光干涉技术多用激光,相干长度达到数千米,不能用来观察纳米级的区域。当光程差接近相干长度时,干涉差变得更小。通过参考面,以设定好的步频移动被测物体,每移动一个步频,记录一个干涉图样,这样大量干涉图样就以像素为单位记录下来。若数据的采集与处理同时进行即可在数秒之内得到测量表面区域的高度信息(形貌特征)。GBS优德w88研发的Smart WLI软件可以对测量数据进行高速运算。三维数据的计算任务转交图形处理器(GPU)完成,一百万测量点的数据处理时间可从30秒降到1秒以内。SmartWLI显微镜升级技术特征德国GBS优德w88的SmartWLI 显微镜升级技术可以将传统二维显微镜升级为先进的三维表面形貌测量设备。该技术涉及硬件组件包括:* 一套基于压电效应、由电脑控制的定位系统(定位精度在纳米量级);* 一款高质量的干涉透镜;* 一款高灵敏度CCD摄像头,带有GigE接口;选件:电动XY轴平台、高性能电脑与拼接技术,可实现大表面三维形貌测量。PC配置要求:因特尔i5处理器,微软Windows操作系统,4G内存,具备高速计算能力 的英伟达图形处理器(NVIDA GPU),TFT液晶显示屏,键盘与鼠标。GBS SmartWLI显微镜升级技术选用的压电调节器由德国Piezo System Jena优德w88开发研制。该款MIPOS透镜调节器纵向方向(Z轴方向)扫描范围可达500 um,可选择相干透镜(物镜)的放大倍数在2.5倍到100倍之间。GBS优德w88开发的SmartWLI软件具备操作直观、数据分析快速、纳米级精度显示等优点,可以对采集到的三维测量数据进行基础运算。经SmartWLI软件处理后的三维测量结果,可再交由图形分析软件MountainsMap做进一步处理,最终可得到二维、三维表面形貌图像、粗糙度、台阶高度、微粒分析与报告等。 基于图形处理器GPU的高速运算功能,三维测量数据运算可以与形貌扫描同步进行。在不过度占用电脑中央处理器(CPU)与内存空间的前提下,实现大范围的三维形貌测量。显微镜升级后的主要测量参数:纵向测量范围: 最大可达400 um横向测量范围: 649 um×483 um (10倍物镜);324 um×241 um (20倍物镜) 129 um×96 um (50倍物镜) (注意:上述数据皆为估算值,实际横向测量范围需参考用户现有显微镜参数)纵向(Z轴)分辨率: <1 nm横向分辨率: 1.66 um(10倍物镜);0.96 um(20倍物镜);700 nm(50倍物镜) 扫描速度: 3.6 - 16 um/s 计算时间: 一百万测量点数据/一秒内SmartWLI显微镜升级技术的其它优势:* 无需新的设备技术,缩短培训周期;* 利用现有测量平台,节省实验室空间;* 保留原有二维测量功能,兼具三维测量能力;* 立足用户原有组件,大幅节省升级费用; (可利用组件包括:光源、镜筒、镜头旋转器、Z轴调节器、XY轴测量平台)。* 全面的三维表面形貌测量功能自动拼接技术与钻石磨削头的三维表面形貌测量升级后的显微镜可以对钻石磨削头进行纳米级分辨率的三维表面形貌测量,可得到表面钻石的形貌和体积。我们可借助本次测量实例,深入了解一种SmartWLI 显微镜升级技术独具的“自动拼接”功能 - 即将大量二维测量区域上的“干涉图样摞”再次叠加,生成更大检测区域的三维图像。软件上的“自动拼接”功能结合硬件上的电动XY轴平台,就可实现更大表面的三维形貌测量。 图3.钻石磨削头三维表面形貌测量结果 (10倍物镜,3×3阵列拼接) 图3所示为选用10倍物镜,以3×3阵列(9倍单位扫描区域),经“自动拼接”得到的三维表面形貌测量结果。借助“自动拼接”功能,可以在数分钟内实现大表面(百倍以上单位测量区域)的三维形貌测量。结语:德国GBS优德w88SmartWLI 显微镜升级技术为传统光学显微镜提供了一种全新的升级方式。经验丰富的GBS工程师可以为您升级现有的显微镜,培训操作人员。SmartWLI显微镜升级技术不但不会对用户现有显微镜的固有功能造成损害或限制,还可以兼容其原有软件。1) 德国GBS优德w88官网:www.gbs-ilmenau.de2) 德国WinWinTec优德w88(GBS中国市场渠道商)官网:www.winwintec.com

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SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Portable
  • 产地:德国
  • SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于大尺寸部件表面形貌测量与分析。仪器操作简单,测量时放置于样品表面;独有的三脚支架结构,方便曲面部件测量;外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI - 便携式白光干涉三维轮廓仪外形紧凑、结构稳固,轻松应对多种测量环境;测速快,精度高,为工业用户提供最优化的产品表面形貌测量条件,适用于产品工艺控制与质量管理。SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携精度高测速快稳定可靠 SmartWLI便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm干涉物镜系统放大倍数10×20×视场范围(μm2)480 × 360320 × 240最小可分辨横向宽度(μm)1.200.90工作距离(mm)7.44.7注:上述数据皆为估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系统LED外观尺寸270 mm(高)× 127 mm (宽) × 165 mm(长)毛重3 Kg 约值,取决于具体配置。操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统、DVD刻录。量测时间通常小于1分钟软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

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SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Extended
  • 产地:德国
  • SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪拥有纳米级测试精度,外接PC或笔记本电脑进行实时数据分析。SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪功能全面,轻松应对各种测试环境。电动XY双轴样品台匹配自动拼接程序,应对大面积测试任务。典型应用包括科学研究、质量控制和工艺管理。德国GBS优德w88SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 通用型 精度高 测速快 稳定可靠 自动拼接SmartWLI- 扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数:花岗岩基座、脚架电动X Y双轴样品台(尺寸:226 x 232 mm2;移动范围:76 x 52mm2) 测量端配物镜转换台、同时兼容4款物镜PC界面、Windows 7系统,NVIDIA 图形处理器具备超速运算功能SmartWLI形貌测量软件、“自动拼接”功能MountainsMap三维图像处理软件 MountainsMAP分析软件作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP 适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。 SmartWLI扩展型白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达400 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素干涉物镜系统放大倍数MAG视场范围FOV (mm)横向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED测试时间通常<20秒软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件;三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三维轮廓仪产品信息,请访问www.WinWinTec.com与 www.smartWLI.de(2012年1月技术数据)SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一)-液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二)-晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四)-透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五)-金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六)-汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七)-粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

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SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI Basic
  • 产地:德国
  • SmartWLI 标准型白光干涉三维轮廓仪--非接触三维表面形貌测量技术 白光干涉测量技术广泛应用于光滑与粗糙表面的三维形貌表征。垂直方向的测量精度可以达到纳米级别。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪结构紧凑,精度高,测速快,满足不同领域用户的测量需求,广泛应用于科学研究、质量管理与工艺控制。 德国SmartWLI标准型白光干涉三维轮廓仪具备如下优点: 1.结构紧凑 2.精度高 3.测速快 4.稳定耐用 5.经济实惠MountainsMAP表面分析软件与三维可视化测量报告作为一款高品质的表面成像与分析软件,MountainsMAP适合实验室、研究机构及工厂各类机能表面的设计、测试或制造设备使用。MountainsMAP拥有一整套全面的解决方案,专用于表面外观及形貌的成像与分析,提供详尽的三维可视化测量报告。SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(一) - 液态轴承SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(二) - 晶片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(三) - 钻石工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(四) - 透镜工具SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(五) - 金属表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(六) - 汽车车身表面SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(七) - 粗糙度标准片SmartWLI白光干涉技术三维表面形貌测量结果(八) - 发动机汽缸

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SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

SmartWLI大视场便携式白光干涉三维轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: SmartWLI PortableLA
  • 产地:德国
  • SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪非接触三维表面形貌测量技术技术特点:5cm直径视场(光斑),800μm垂直测量高度,无需拼接即可在短时间内(通常1分钟)完成大区域面积的三维形貌(轮廓)的测量任务!SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪,专用于车身、印刷滚筒、太阳能电池等工业产品的表面形貌测量与分析。仪器采用白光干涉测量原理,操作简单, 可轻放于样品表面执行测量任务。特有的三脚螺纹支架结构,便于测量弯曲表面。系统内置三束激光校准系统,便于迅速锁定测量区域。外接笔记本电脑完成数据分析,测量结果立体直观呈现。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪方便携带、易于运输。现场安装与启动几分钟内即可完成。适用于工业产品表面快速、纳米级精度测量。SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪具备如下优点:灵活便携操作简单厘米级视场纳米级精度典型应用领域包括:质量管理工艺控制产品研发 SmartVIS 3D测量软件 欧元硬币表面三维形貌测量图数据分析与结果输出:样品表面三维形貌图解表示几何分析(长度、角度、面积测量;不规则区域、坑洞体积;样品表面台阶高度与侧面轮廓剖面图)粗糙度分析(样品粗糙度与表面波度)材料属性分析(材料摩擦磨损实验测定)区域计算与轮廓参数(满足ISO 25178 : Sa, Sz… 与ISO 4287 : Ra, Rz…标准要求) SmartWLI 大视场便携式白光干涉三维轮廓仪技术参数测量系统量测原理 白光干涉Z轴定位系统压电效应调节系统高度量测范围最大可达800 μm摄像头参数CCD摄像头;1624x 1234相素校平系统三束激光干涉物镜系统视场范围(mm2)35 x 35最小可分辨横向宽度(um)28工作距离(mm)10垂直分辨率小于10nm光源系统LED外观尺寸295 mm(高)× 180 mm (宽) × 245 mm(长)支架高度调节范围(三脚螺纹支架)大约5-30 mm毛重约3.5 Kg 操作界面笔记本电脑、Windows 7操作系统量测时间通常小于1分钟工作温度10-35℃推荐工作温度18-22℃软件系统SmartWLI基于微软Win7操作系统,64位表面形貌测量软件、三维数据可通过接口直接传输至MountainsMap分析软件。MountainsMap三维数据分析软件,轮廓及三维影像结果输出、测量数据预处理及后处理、德标(DIN)欧标( EN) ISO标准粗糙度及高度测定、串行处理及测试日志。输出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 车身部件表面三维形貌测试结果 印刷行业:激光凹版容积 (油墨消耗)工艺控制产品研 注塑行业:注塑机的校准 硅晶片表面波纹度与粗糙度测试 其它测试结果欣赏 其它测量结果欣赏

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中图仪器SJ5700轮廓测量仪

中图仪器SJ5700轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: SJ5700
  • 产地:深圳
  • 【产品概述】中图仪器SJ5700轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的素线轮廓形状参数,角度处理(坐标角度,与Y坐标的夹角,两直线夹角)、圆处理(圆弧半径,圆心到圆心距离,圆心到直线的距离,交点到圆心的距离,直线到切点的距离)、点线处理(两直线交点,交点到直线距离,交点与交点距离,交点到圆心的距离)、直线度、凸度、对数曲线、槽深、槽宽、沟曲率半径、沟边距、沟心距、轮廓度、水平距离等形状参数。【产品结构】【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:完全满足被测件测量精度要求。1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量;4) 可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;5) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 可进行多参数测量粗糙度自动评价,包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。5、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。6、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。【技术指标】1. X轴1) 测量范围:0~200mm;2) 示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;4) 直线度:2um/200mm5) 测量速度:0.1~5mm/s;6) 移动速度:0~30mm/s;2. 传感器Z1轴1) 测量范围:±25mm;2) 示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;3. Z轴1) 测量范围:0~450mm;2) 移动速度:0~30mm/s;4. 测量力:10~150mN;5. 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;6. 仪器尺寸(长×宽×高):花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;7. 仪器总重量:约150Kg;8. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%【应用范围】中图仪器SJ5700轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、摩托车、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室。在汽车、摩托车、制冷行业,可测汽车、摩托车、压缩机的活塞、活塞销、齿轮和气门顶杆的母线参数等.并可测量各种斜形零件的参数。在轴承行业,可测内外套圈的密封槽形状(角度、倒角R、槽深、槽宽等);各种滚子轴承的滚子和套圈母线的凸度、角度、对数曲线; 电机轴、圆柱销、活塞销、滚针轴承、圆柱滚子轴承、直线轴承的滚动体和套圈的直线度;球轴承沟道的沟曲率半径及沟边距;双沟轴承的沟心距;四点接触轴承(桃形沟)的沟心距和沟曲率半径等。

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中图仪器SJ5700轮廓仪

中图仪器SJ5700轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: 中图仪器SJ5700
  • 产地:深圳
  • 【产品简介】中图仪器SJ5700轮廓仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。【测量项目】中图仪器SJ5700轮廓仪可测量各种类型工件表面的线要素、点要素,点与点的距离、线与线的距离,各要素的位置度包括:距离、平行度、垂直度、角度、槽深、槽宽、半径,可进行直线度分析,凸度分析、轮廓度分析。【应用行业】中图仪器SJ5700轮廓仪广泛用于机械加工、汽车、摩托车、精密五金、精密工具、刀具、模具、光学元件等行业,适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间【性能特点】1、 高精度、高稳定性、高重复性:分辨力0.01μm,完全满足被测件测量精度要求。1) 国际领先的高精度光栅测量系统,分辨力达到0.01μm,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨直线度达到2um/200mm,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件轮廓测量;4) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;5) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;6) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。4、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。5、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。【技术参数】1. X轴1) 测量范围:0~200mm;2) 示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;4) 直线度:2um/200mm5) 测量速度:0.1~5mm/s;6) 移动速度:0~30mm/s;2. 传感器Z1轴1) 测量范围:±25mm;2) 示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;3) 分辨率:0.01um;3. Z轴1) 测量范围:0~450mm;2) 移动速度:0~30mm/s;4. 测量力:10~150mN;5. 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;6. 仪器尺寸(长×宽×高):花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;7. 仪器总重量:约150Kg;8. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%

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SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪

SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪

  • 品牌:
  • 型号: SJ5701-200
  • 产地:深圳
  • SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪性能特点:1、 高精度、高稳定性、高重复性:完全满足被测件测量精度要求:1) 选用国际领先的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统,测量精度高;2) 自主研发高精度研磨导轨系统,导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作;3) 高性能直线电机驱动系统,保证测量稳定性高、重复性好;2、 智能化管理与检测软件系统:仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便。1) 10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;2) 功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询测量记录;3) 测量范围广,可满足绝大多数类型的工件粗糙度轮廓测量;4) 可自动和手动选取被测段进行评定,可依据客户要求进行软件功能的定制;5) 纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;6) 打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;7) 本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。3、 可进行多参数测量:粗糙度自动评价,包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 测量力系统: 采用音圈电机测力系统,测力可实现从10~150mN连续可调,测力分辨力可达0.2mN;避免了老式砝码加载因周围环境振动带来的测力误差,降低了测力变化引起的测量误差。5、 智能保护系统:一旦出现主机与被测工件或夹具相撞、或测针在扫描过程中出现拉力过大,仪器会停止扫描保护测量系统和测针。6、 灵活手动控制:仪器配置了操作杆,可在测量工件前对测针进行粗定位;在脱离电脑的情况下,让测针左右、上下快速移动。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪用途:SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪广泛应用于机械加工、汽车、轴承、机床、摸具、精密五金、光学加工等行业。该仪器可测量各种精密机械零件的粗糙度和轮廓形状参数。用拟合法来评定圆弧和直线等。从而可测量圆弧半径、直线度、凸度、沟心距、倾斜度、垂直距离、水平距离、台阶等形状参数。该仪器还可对各种零件表面的粗糙度进行测试;可对平面、斜面、外圆柱面、内孔表面、深槽表面、圆弧面和球面的粗糙度进行测试,并实现多种参数测量。本仪器依据GB/T3505-2009、GB/T6062-2009、GB/T10610-2009国家标准及ISO5436、ISO11562国际标准制造。SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪技术参数:1. 粗糙度测量:●基本参数:测量范围:X轴200mm,Z1轴±80μm / ±40μm / ±20μm直线度误差: ≤0.15μm/20mm,≤0.5μm/200mm示值误差:±5%分辨率:Z1轴0.04μm(±80μm), 0.02μm(±40μm), 0.01μm(±20μm)测量速度:0.5 mm/s 和0.1 mm/s可调●硬件结构:测针:标准型(高度小于8mm) 1支,触针半径2μm,静态测力0.75mN;大理石平台:尺寸≥800×450mm;电动立柱:高度≥450mm;●测量软件依照ISO3274等国际标准, 能自动选取截止波长;●测量参数R粗糙度:Ra,Rq, Rz,Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,R3z,RSm,Rs,Rsk,Rku, Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr,Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,VoP轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr,W波度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMrMotif参数:R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CLISO5436参数:Pt,D轮廓类型: 支持D,P,W,R●滤波器:高斯滤波器、RC滤波器,相位修正滤波器滤波波段可选择,也可任意设定;支持自动选择符合标准的过滤方式和取样长度;2. 轮廓测量:(1)X轴测量范围:0~200mm;示值误差:±(0.8+2L/100)um,其中L为水平测量长度,单位:mm;分辨率:0.01um;直线度:2um/200mm测量速度:0.1~5mm/s;移动速度:0~30mm/s(2)传感器Z1轴:测量范围:±25mm;示值误差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H为垂直测量高度,单位:mm;分辨率:0.01um;(3)Z轴:测量范围:0~450mm;移动速度:0~30mm/s;(5) 测量力:10~150mN;(6) 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;(7) 工作台:旋转角度:360度,X、Y移动 :15mm。3. 仪器尺寸:花岗岩平板800×450×100mm 整机:850×500×1100mm;仪器重量:150Kg4. 使用环境:无强磁场,无振动,无腐蚀气体工作温度:20℃ ±2℃相对湿度:40-60%SJ5701-200粗糙度轮廓测量仪标准配置:1) SJ5701-200粗糙度轮廓一体式测量仪主机 1台;(1)轮廓模块(2)粗糙度模块(含粗糙度测针)2) 组合校准规 1套;3) 圆锥硬质合金测针1支;4) 单切面硬质合金测针1支;5) 平口虎钳 1套;6) 万向工作台 1套;7) 测量软件1套; 8) 品牌计算机1套1)主机配置:双核以上CPU,500GB硬盘,2G内存,Win7系统;2)显 示 器:24寸液晶显示器。9) HP激光打印机1台(型号随HP厂家变更而变更)10) 铝合金仪器配件箱1个;11) 产品使用说明书1套;12) 产品合格证、保修卡1套;13) 免费保修1年。

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NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 NVM-6000P

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 NVM-6000P

  • 品牌:
  • 型号: NVM-6000P
  • 产地:韩国
  • 产品描述NVM-6000P是专用型设备,用于基板表面形貌的测量。基板上的Via Hole,Pad形状,pattem形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性,支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。产品规格扫描范围:0-180um(270um可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm台阶高度重复性:0.5%(1σ)横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)工作台面:510X405mm(程控)尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

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NanoSystem 非接触式3D轮廓仪  Nano View-3000

NanoSystem 非接触式3D轮廓仪 Nano View-3000

  • 品牌:
  • 型号: Nano View-3000
  • 产地:韩国
  • 产品描述Nano View-3000是高端机型,包括:非接触3D形貌测量,更广的测量范围(5mm可选),自动聚焦功能(可选),拼接和线路纵断面等功能。产品规格干涉物镜:5物镜可选(程控)扫描范围:0-180um(270um,5mm可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)倾斜度:±6°工作平台:NV-P2020 200X200mm(程控)NV-P4050400X500mm(程控)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

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NanoSystem 非接触式3D光学轮廓仪 Nano View-2000

NanoSystem 非接触式3D光学轮廓仪 Nano View-2000

  • 品牌:
  • 型号: Nano View-2000
  • 产地:韩国
  • 产品描述Nano View-2000是经济型机型,通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。产品规格干涉物镜:5个物镜可选扫描范围:0-180um(270um,5mm可选)垂直分辨率:WSI:0.5nm,PSI :0.1nm倾斜台:±6°Z轴行程:100mm(手动)工作台面:100X100mm(程控)应用领域Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。

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FocalSpec 线共焦传感器

FocalSpec 线共焦传感器

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: Line Confocal Sensors
  • 产地:芬兰
  • 线共焦 在线无触碰式测量 表面轮廓测量 表面粗糙度测量FocalSpec线共焦传感器原理:光谱仪将发光二极管发出的光分散成不同波长不同高度的光,这些光聚焦在同一聚焦面并照射到样品表面,通过分光仪分析样品表面所反射的光。根据反射光波长变化,判断样品表面信息。FocalSpec线共焦传感器技术指标:FocalSpec线共焦传感器特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.安装简单4.占地面积小更多产品咨询请点击:北京正通远恒科技有限优德w88

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FocalSpec   线共焦扫描仪

FocalSpec 线共焦扫描仪

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: Line Confocal Scanner
  • 产地:芬兰
  • 线共焦,在线缺陷检测,在线三维形貌测量,表面轮廓测量仪FocalSpec 线共焦扫描仪应用高精度3D尺寸、装配公差、空隙、缺口、平整度、表面形貌、外观和触感、粗糙度、毛边、透明/半透明部件厚度。FocalSpec 线共焦扫描仪技术指标1.尺寸h,w,d:1653,745,8002.扫描区域x, y, z:400,200,1003.重复性x,y: 2.5μm;z:0.5μm4.电源:230/110 VAC5.连接方式:Ethernet Lan6.电脑:PC(os Win7, 64bit)7.显示:触摸屏8.3D点云输出,兼容MATLABFocalSpec 线共焦扫描仪特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.安装简单4.占地面积小

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在线线材粗糙度测量系统

在线线材粗糙度测量系统

  • 品牌: 芬兰FocalSpec
  • 型号: MP 900
  • 产地:芬兰
  • 原理光谱仪将发光二极管发出的光分散成不同波长不同高度的光,这些光聚焦在同一聚焦面并照射到样品表面,通过分光仪分析样品表面所反射的光。根据反射光波长变化,判断粗糙度信息。应用电缆、金属丝、线材、管材在线粗糙度测量技术指标1.最小测量直径:1mm2.最大测量直径:不限3.样品颜色:不限(透明,半透明,不透明均可)4.表面材质:PE,PVC,PP,PU,PTEE,ETFE,FEP,PFA,SBR,EPDM,金属等5.最大进线速度:150m/min6.测量值:Ra及其他7.Ra测量范围:0.2-10μm8.测量精度:优于0.03μm9.测量速度:250测量值/s特点1.抗冲击,抗震动,免维护2.不同颜色,不同种类材料测量无需再校准3.生产线上安装简单4.占地面积小

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三维台阶仪

三维台阶仪

  • 品牌:
  • 型号: profiler
  • 产地:德国
  • 这款三维台阶仪是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面台阶仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。三维台阶仪根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力。三维表面台阶仪仪创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维台阶仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面台阶仪应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积 分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度 摩擦学研究,光谱分析三维台阶仪广泛用于:磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。

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三维表面形貌仪

三维表面形貌仪

  • 品牌:
  • 型号: 3D profiler
  • 产地:德国
  • 这款三维表面形貌仪是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。三维表面形貌仪根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力。三维表面形貌仪创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积 分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度 摩擦学研究,光谱分析三维形貌仪广泛用于:磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。

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三维表面轮廓仪

三维表面轮廓仪

  • 品牌:
  • 型号: Profilometers
  • 产地:德国
  • 这款三维表面轮廓仪是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量。三维表面轮廓仪根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力。三维表面轮廓仪创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维轮廓仪参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面轮廓仪应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积 分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度 摩擦学研究,光谱分析三维轮廓仪广泛用于:磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。

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表面粗糙度测量仪

表面粗糙度测量仪

  • 品牌:
  • 型号: SRMFP
  • 产地:德国
  • 这款表面粗糙度测量仪非常适合冷轧钢的表面粗糙度测量。表面粗糙度测量仪具有如下特点:对钢卷长度方向的表面粗糙度进行可视化和记录;在线记录这款表面粗糙度测量仪每秒钟可处理10幅激光图片和表面显微结构。给出Ra,Rz和RPc等指标。

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alicona 全自动刀具测量仪 EdgeMaster X

alicona 全自动刀具测量仪 EdgeMaster X

  • 品牌:
  • 型号: EdgeMaster X
  • 产地:奥地利
  • 全自动刀具测量仪EdgeMaster X 由奥地利Alicona优德w88研发生产,是现有型号IF-EdgeMaster的增强版。操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小景深和垂直扫描相结合。系统全自动刃口测量EdgeMaster X是一套全自动刃口测量仪器,用于生产过程中为数控刀片、钻头、铣刀和其他圆刃刀具提供质量保证。尤其值得骄傲的,EdgeMaster X能够自动实现刀具的多刃口测量。在单一测量进程中,EdgeMaster X能够自动完成由客户指定的多个刃口位置和完整系列的多参数全套测量。系统的完美设计,使其能够为生产过程提供全自动的质量保证。所有的测量结果具有可追踪性,高重复性和高垂直分辨率。优势多刃口的全自动测量用户可以通过测量刀具多个不同位置的刃口参数,来较验刃口的制备工艺。另外,EdgeMaster X还可以分析指定位置的结构和粗糙度,并在同一批次中多种刀具之间相互比较。如果将EdgeMaster X与电动旋转单元联用,其更是能够在单次测量中实现复杂刀具的多个刃口测量,甚至倒棱测量。Alicona 刀具测量系统生产中的高分辨率刃口测量系统EdgeMaster X源于Alicona自动刀具测量的生产线,是现有型号IF-EdgeMaster的增强版。EdgeMaster X和EdgeMaster均为生产的质量保证而设计,即使在振动,温度变化及外界光线干扰的情况下,依然能够保障可追踪性和重复性测量。常用功能包括刃口半径测量、角度测量、磨损和粗糙度测量等。全自动刀具测量仪EdgeMaster X的部分技术参数:测量原理:非接触,光学,三维,基于Focus-Variation最大测量高度:155mm最大测量重量:4kg最小测量半径:2μm最小测量楔角:20°最小测量粗糙度(Ra):0.15μm最小测量粗糙度(Sa):0.075μm最大斜面长度:4000μm最大测量倾斜角:87°

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alicona 光学三维刀具测量仪

alicona 光学三维刀具测量仪

  • 品牌:
  • 型号: InfiniteFocus SL
  • 产地:奥地利
  • 仪器简介:InfiniteFocusSL光学三维刀具测量仪是奥地利Alicona优德w88专门针对刀具检测而研发的一款全新产品,操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小景深和垂直扫描相结合。系统InfiniteFocus SL是一款经济型、用于实验室研究和生产控制的光学三维表面形貌测量仪。InfiniteFocusSL除可以测量形貌及微观结构的表面外,还可以测量部件的粗糙度。完美的机身框架和智能的光源使InfiniteFocusSL的测量更快速,更容易。优势InfiniteFocus SL测量速度快、稳定性强,而且经济实惠。超过33mm的超长工作距离及50X50mm测量范围使它拥有了极宽的应用范围,测量可以在几秒钟内完成。应用应用范围从刀具工业的刃口测量到质量保证及微观结构的表面刃口测量。InfiniteFocus SL应用于汽车、航天、模具、刀具、机械加工等制造企业。InfiniteFocus SL光学三维刀具测量仪的主要技术参数:1、光源: LED环形灯;2、移动范围X/Y:自动50mm×50mm;3、移动范围Z:130mm(26mm自动);4、旋转单元旋转角度:自动360°;5、最小取样距离:0.2μm;6、最小可重复性(垂直):10nm;7、最高扫描高度:16mm;8、最佳垂直分辨率:20nm;9、最大操作距离:17.5mm;10、最小测量半径:2μm;11、最小测量楔角度:20°;12、最小粗糙度(Ra):80nm;13、最下粗糙度(Sa):50nm;14、最大样品高度:155mm;15、可测量表面纹理:中心线平均粗糙度Ra高于9nm,Lc=2 um;

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自动变焦三维表面测量仪

自动变焦三维表面测量仪

  • 品牌:
  • 型号: InfiniteFocus/InfiniteFocus SL /IF-EdgeMaster
  • 产地:奥地利
  • 仪器简介:自动变焦三维表面测量仪InfiniteFocus/InfiniteFocus SL/ IF-EdgeMaster是奥地利Alicona 优德w88研发生产的集形貌测量和粗糙度测量为一体的高精度光学测量仪,其工作原理采用的是目前世界领先的自动变焦(Focus Variation)技术。特点:能够同时测量形貌和粗糙度能够测量小半径和小角度能够测量超过80°的斜面标准真实的颜色信息提供360°的形状和粗糙度测量检测具有不同表面表征的表面测量性能:表面形貌测量粗糙度测量表面纹理测量体积测量与分析二维图像测量编程操作(对于重复性测量任务,InfiniteFocus可以使用程序控制执行测量)部分技术参数:垂直分辨率:10nm水平光学分辨率:400nm水平取样距离:90nm最大扫描高度:22mm最大扫描面积:10000mm2应用汽车工业工具和刀具造纸与印刷刑事侦察摩擦与腐蚀医疗器械微电子工业

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alicona全自动刀具测量仪

alicona全自动刀具测量仪

  • 品牌:
  • 型号: IF-Edgemaster
  • 产地:奥地利
  • 全自动刀具测量仪仪IF-EgdeMaster是奥地利Alicona优德w88专门针对数控刀具检测而研发生产的专家级刀具检测仪器,它不仅可以测量刀具的形貌、粗糙度,还可以测量不同材质、不同表面处理、不同类型及不同尺寸的刃口。 1.自动测量各种刀具刃口的几何参数,如刀刃曲率半径、前角、后角、弧度等。。 2.自动测量各种刀具刃口的表面粗糙度。 3.自动刀具磨损分析。测量原理: 全自动刀具检测仪IF-EdgeMaster的工作原理采用的是目前世界领先的自动变焦(Focus Variation)技术。 性能特点: 1. 真正的三维测量: 自动变焦技术获得刀具刃口的三维形貌,标注真实颜色信息的三维数据结果 2. 环形光源: LED环形光源准确测量不同角度斜面的刀具刃口 3. 刃口的表面粗糙度: 检测切削刀具刃口的表面粗糙度 4. 激光辅助定位: 双激光辅助聚焦定位系统,自动寻找刃口位置。 5. 专用刀具夹具: 无需样品处理,保证高重复性的测量 6.人性化操作软件: 快速、简单的操作指引向导,全自动分析测量数据; 7. 详细的数据报告: 获得刀刃的角度、曲率、粗糙度等数据; 可预设刀刃的标准值及公差范围,快速判断刀具生产是否合格。技术参数: 物镜:10倍,20倍 光源:LED环形光源,激光定位 样品台移动范围:25×25mm 垂直移动范围(粗调):64mm 垂直移动范围(微调):26mm 测量仪器尺寸:167×270×388mm 扫描高度:16mm 垂直分辨率:150nm 视野范围:1760×1320μm 测量速度:20-60秒 应用: 全自动刀具检测仪IF-EdgeMaster主要用于测量数控刀片、钻头、铣刀及其他螺纹刀具等。

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汽车气缸专用非接触三维表面测量系统

汽车气缸专用非接触三维表面测量系统

  • 品牌: 德国nanofocus
  • 型号: NanoFocus usurf cylinder
  • 产地:德国
  • 产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。德国μsurf cylinder机台是世界上唯一的一款专为测量桶状内壁设计的非接触式三维表面测量仪,并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析能力,被世界顶级的汽车厂商所应用。产品特点:耐用可靠无损测量光学分辨率高速度快,数秒内完成测量真实的3D数据产品功能:纹理分析(角度分析)粗糙度计算符合DIN EN ISO标准计算三维表面粗糙度参数磨损分析,缺陷检测和体积参数应用领域:3D表面形貌2D的纵深形貌轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)表面粗糙度有利于提高成形性,改善外观以及涂漆性能,降低磨损,提高效率usurf cylinder是一款为汽车行业度身定做的机台设备,该产品还可以根据客户需求进行自动编程,实现全自动化的拼接测量,并且自动生成测试报告和相关数据。目前大众、奔驰、宝马等汽车行业巨头都在使用该设备,由于精度高,操作简便,又是基于发动机引擎定制的机台,可操作性很强,钢桶内壁的测量始终是一个技术难关,现在usurf cylinder的研发顿时解决了这个技术难题,使得发动机技术部门的工程师只需要进行几步简单的操作即可完成测量。

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