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X射线衍射仪
X射线衍射仪概述

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不能出现不输件、不及时输件以及输件不正确、不规范、重复输件、同一个证书编号的办件分成多个办件录入以及超期办结等现象。标志的主形采取三个奋发向上的大学生,三个人物相互衬托,互为托举,携手共进,拥抱未来,彰显了孔子的三人行必有我师的观念。

X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似。X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,X射线衍射仪广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业。X射线衍射仪(X-Ray Diffractometer,XRD)是目前应用最为广泛的研究晶体结构的装置。X射线衍射仪可分为X射线单晶衍射仪和X射线多晶衍射仪。

分析仪器

X射线衍射仪技术资料

X射线衍射仪解决方案

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荷兰帕纳科X射线衍射仪

荷兰帕纳科X射线衍射仪

  • 品牌: 荷兰帕纳科
  • 型号: XPert Powder
  • 产地:荷兰
  •   仪器简介:  X'Pert Powder,配置超能阵列探测器,速度与强度的理想组合,满足各种粉末应用要求,具有无限扩展性。  超高频X射线发生器  采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路  立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术  技术参数:  1,功率:3kW  2,测角仪重现性:0.0001度  3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)  主要特点:  灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。  快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。  前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。

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荷兰帕纳科X射线衍射仪XPert Pro MRD

荷兰帕纳科X射线衍射仪XPert Pro MRD

  • 品牌: 荷兰帕纳科
  • 型号: XPert Pro MRD
  • 产地:荷兰
  •   仪器简介:  X'Pert PRO MRD/XL是高级半导体材料的标准装备,用于: 高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping, 反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析, X'Pert PRO MRD/ XL 满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以满足直径达 300 mm的晶片分析,并有精密的自动晶片装载选择;XL成为薄膜生产发展的先进的分析手段,LED的业界标准。  可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如:  · 振动曲线分析和交互空间图  · 反射仪和薄膜相分析  · 残余应力和织构分析  同已经证明的标准版本系统一样,还有许多专门的版本:  · X'Pert PRO MRD平面衍射系统,可以测量与样品表面垂直的晶格衍射  · X'Pert PRO Extended MRD 允许装备 X射线镜像和在线高分辨单色器,增强入射光束的强度。  · X'Pert PRO MRD XL 满足半导体,薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。  技术参数:  1,功率:3kW  2,测角仪重现性:0.0001度  3,测角仪类型:T-2T  4,五维样品台

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PlanetX射线衍射仪

PlanetX射线衍射仪

  • 品牌: 德国Planet
  • 型号: Planet
  • 产地:德国
  • Planet便携式X射线粉末衍射仪的结构采用Seemann-Bohlin聚焦几何方法,是世界上唯一一款具有测角仪结构的便携式X射线衍射仪。其精度在媲美实验室大型台式X射线衍射仪的同时,又能将尺寸集成到旅行箱大小,将精度和便携性完美整合在一起。采用瑞士DECTRIS优德w88专利的混合光子计数(HPC)X射线探测器,帧率高背景噪音小。 反射式聚焦几何结构的好处是: 1、2θ角度范围大(7-120°),几乎覆盖所有样品的测试范围(金属2θ角度在20~120°,矿物2θ角度在3-70°,有机物2θ角度在3-60°) 2、反射式结构:一些密度大的重矿物或对X射线吸收率高的矿物都可以测量 3、2θ分辨率高:半峰宽FWHM小于0.1°

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多功能粉末X射线衍射仪

多功能粉末X射线衍射仪

  • 品牌: 荷兰帕纳科
  • 型号: XPert Powder
  • 产地:荷兰
  • 仪器简介:  X'Pert Powder,配置超能阵列探测器,速度与强度的理想组合,满足各种粉末应用要求,具有无限扩展性。超高频X射线发生器采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术技术参数:1,功率:3kW 2,测角仪重现性:0.0001度3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)主要特点: 灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。 快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。 前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。

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APD 2000 PRO 粉末X射线衍射仪

APD 2000 PRO 粉末X射线衍射仪

  • 品牌: 德国S+H
  • 型号: APD 2000 PRO
  • 产地:意大利
  • 仪器简介 APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X 射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X 射线管具有优异重现性和稳定性;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。  主要特点■ 采用Kα1 Johannson 单色器,具有低背景和高检出限;■ 平面和二次弧形石墨单色器适合接受Ag, Cr, Fe, Cu, Co和 Mo 激发线;■ 可以实现自动切换反射和传送模式;■ 光学编码器控制测角仪,具有高精密度和高测量速度;■ 创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;■ 采用闪烁计数器和能量色散型检测器;■ 环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作;■ 双重安全电路保护设计。

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WISMANHV—XDB(X-ray双极性output)X射线衍射仪专用高压电源

WISMANHV—XDB(X-ray双极性output)X射线衍射仪专用高压电源

  • 品牌: 西安威思曼
  • 型号: XDB
  • 产地:
  • 【型  号】 XDB 【功率(W)】 300W,600W,1200W 【最大输出电压(kV)】 ,40,60,70,80,100,120,125,130,140, 【在线订购】 【在线下载】 威思曼XDB系列高压电源是双极性输出X射线管专用的高稳定性模块式高压电源,功率1200W 时可提供140KV(±70KV)的高压。XDB系列采用宽电压输入、外形小巧、并具有标准模拟和RS-232数字接口,可轻松集成到您的X射线系统。基于DSP 的控制系统使XDB具有出色的调节能力和极好的稳定性。 可选功能: USB USB2.0接口 RS422 RS-422接口 RS232RS-232接口 规格说明: 输入电压:功率因数校正输入 300W:输入电压交流 90V-264V,47HZ-63HZ。 600-1200W:输入电压交流 180V-264V,47HZ-63HZ。 输出电压: 40KV、60KV、80KV、100KV、120KV、140KV 等多种电压可选。 输出极性: 双极性输出,负高压用于悬浮灯丝 X 射线管。 功率: 3 种输出功率范围:300W,600W 和 1200W.其他功率需求可特别定做。 电压控制: 电源内部:电源自带的多圈电位器可将输出电压设置在 0V 到最高电压之间。 外部遥控:外部 0 到 10V 控制信号可将输出从 0V 调到最高输出电压。 发射电流控制: 电源内部:电源自带的多圈电位器可将电子束电流设置在 0A 到最高电流之间。 外部遥控:外部 0 到 10V 控制信号可将电子束电流设置在0A 到最高电流。 电压调整率: 相对负载:≤0.01%(空载到额定负载) 相对输入:≤0.01%(输出电压) 电流调整率: 相对负载:0.01%(空载到额定负载) 相对输入:±0.01%(输入电压变化30% - 100%)。 纹波电压:≤1% rms( >20kHz ),0.1% rms ( ≤20kHz ) 工作温度:0 到 +40℃。 储存温度:-40℃到 85℃。 温度系数:每摄氏度 50ppm 湿度:20% 到 85%RH,无冷凝。 稳定度:开机 2 小时后,≤ 25ppm/hr 灯丝配置: 通过闭环回路控制灯丝输出为 X 射线管提供所需电流。 悬浮灯丝(交流输出用于负高压输出) 灯丝输出: 输出电流 0-5A 可调,输出电压为 0-10V 可调,为保护 X射线管,高压输出值低于最大高压输出值的30% 灯丝电流电路禁止工作。 其他灯丝输出需求可特别定做。 电压电流指示:0 到 10V ,额定输出条件下精度为 1%。 外形尺寸:长304mm 宽304mm 高120mm 输入连接线:带有 EMI 滤波器的 IEC320。 有关威思曼及其更多高压产品的信息,请致电 086-029-33693480或访问其网站: www.wismanhv.com 威思曼高压电源有限优德w88,通过ISO9000:2008质量体系认证,优德w88拥有出色的高压电源研发团队,完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术,完善的零电流谐振技术,使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小,损耗小,效率高,长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力,是OEM应用的理想选择。 威思曼高压电源有限优德w88是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商,同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器,实验室以及海底光纤 等设备。集设计,生产和服务为一体的工厂分布于美国,英国,及中国等地,并且我们销售中心遍布于欧洲,北美洲以及亚洲,我们将竭诚为您服务!

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X射线衍射仪 Ultima IV(全自动多功能)

X射线衍射仪 Ultima IV(全自动多功能)

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: Ultima IV系列
  • 产地:日本
  • 仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 技术参数:1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有) 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件(理学独有) 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等主要特点: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

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理学X射线衍射仪-MiniFlex 600(便携式)

理学X射线衍射仪-MiniFlex 600(便携式)

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: MiniFlex 600
  • 产地:日本
  • 仪器简介:Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。 主要特点: 台式X射线衍射仪MiniFlex600,外型小巧方便,具有近于高端分析仪器的测试性能,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域,是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析;Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查,劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪;Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。 *打破以往X射线分析仪器常规,以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准; *外箱采用具有高度安全性的完全密封设计,使仪器移动、安装均能简单自如完成,可充分调整光学系统; *安装后接入电源即可开始使用,操作简单,初学者也能轻松自如; *具有超高性价比的MiniFlex600,为您开创轻松自由的X射线新时代。技术参数: 1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约1400px,高1625px,深925px;重量约76kg。 2. 测角仪为垂直式,放置样品方便。 3. 测角仪配程序式可变狭缝,改善低角度P/B,提高高角度强度。 4. 安全设计,放置样品时自动关闭X射线。 5. 最优化的光路及新探测器,强度提高3倍 6. 软件丰富 7. 附件可配 8. 计数端单色器,扣除Kβ荧光X射线,提高P/B比 9. 旋转样品台 10.六样品自动交换器。 主要的应用软件有: 1. 多重记录 2. 定性分析 3. 定量分析 4. ICDD数据库管理 5. 环境粉尘专用定量软件

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理学智能型X射线衍射仪SmartLab

理学智能型X射线衍射仪SmartLab

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: SmartLab
  • 产地:日本
  • 仪器介绍: 智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数: 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶 2、测角仪为水平测角仪 3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利) 4、测角仪配程序式可变狭缝 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利) 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利) 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS) 8、多用途薄膜测试组件 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件 10、In-Plane测试组件(理学独有) 11、入射端Ka1光学组件 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下) 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线) 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利) 主要特点: 智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

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ICDD国际衍射中心PDF图谱检索软件

ICDD国际衍射中心PDF图谱检索软件

  • 品牌:
  • 型号: SIeve
  • 产地:美国
  • 介 绍: SIeve是ICDD的检索软件,它利用高度自动化的Hanawalt, Fink 和 Long-8 检索来为您提供快速的检索和鉴定。它利用现代计算机强大的动态计算能力在数十万条储存的数据中执行快速的排列搜索操作。用Fink 和 Long-8两个运算法则对数据进行排列,通常想把它们打印出来是不切实际的,因为数据量太大了。SIeve的另一个特点是能够通过自动调换8条最强线(Hanawalt)、8条最长最强线(Fink)或是8条长线(Long 8)的顺序去寻找不同的匹配,从而提供匹配优化(GOM)。我们已经实现了一种能够提供对比的 “GOM图谱”,就像一份纸质的手册一样,从而使参考图谱里所有的线和未知图谱里所有的线都必须匹配。SIeve的显示为标准GOM和实际样品的GOM提供了更进一步的比较。 SIeve既接受d/I数据的输入,也接受包含d值或者2θ/I数据的电子文件。这个灵活的文本输入系统能够读取各种各样的输入文件,任何成对的d/I数据都可以被输入。SIeve+通过我们的一体化浏览软件链接到Global(全球)检索和Search Preferences(优先检索)。这就意味着一个用户可以基于不同类型的检索方法: 分类或者复合检索,来定义个性化的SIeve输入过滤方法。SIeve的结果还可整合到我们浏览软件的检索条件中。 按照分类选项在表中列出各相 被选择的相突出对应的匹配线 用颜色来识区别适合不同匹配窗口的d值 包含范例的分会议题可储存于XML文件中 新增了与显示范围匹配的单位:埃,度 实验线的数目没有限制 相的数目没有限制 改良了运算法则 GOM图谱 匹配某相的I/Ic值 先进的用户输入方式:可以存储用户的习惯设置

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ICDD国际衍射数据中心PDF-4数据库卡片

ICDD国际衍射数据中心PDF-4数据库卡片

  • 品牌:
  • 型号: PDF-4+2015
  • 产地:美国
  • 介 绍: PDF-4是ICDD是世界上最成功的数据库,它包含了定向分析和定量分析。针对定量分析,PDF-4具有如下特点:识别和量化。 PDF-4包含了365,877条目录,它结合了所有晶体和粉末等无机材料的数据。这就导致了PDF-4是一个结合所有无机材料数据,标准化数据格式的数据库,可以用来快速识别数据。PDF-4 +旨在支持自动定量分析,提供重要分析所需数据。它还包含了一系列工具来补充传统的分析。PDF-4 +的特性是数字化模式、分子图形和原子坐标。这些特性已经被纳入到PDF-4 +,可以用其他的方法(Rietveld Analysis, Reference Intensity Ratio (RIR) Method or Total Pattern Analysis)来提高分析能力。特 点:1)PDF-4包含了365,877条目录;2)包含粉末和晶体的无机数据;3)使用年限是2(1+1)年4)包含了分析工具。

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理学 高分辨率3D X射线显微镜-nano3DX

理学 高分辨率3D X射线显微镜-nano3DX

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: nano3DX
  • 产地:日本
  • 理学的新产品- nano3DX X-射线显微镜的特点是结合了高分辨率光学、强大的转靶和亚显微CCD技术。这个特点使仪器可以迅速收集数据并且提供迅速切换阳极材料优选数据收集的能力。此仪器提供了超视野并且在相对大的范围内对样品提供高分辨率。X-射线显微镜适用范围广泛,范围可以从高密度材料例如钢和陶瓷到低密度材料例如生物范例等。主要特点: 超视野 快速收集数据 威力强大的转靶和高分辨率光学系统 亚显微CCD技术 仪器的稳定性带来效率 提供了在0.27μm上重建3D图象的方法技术参数: 发生器:MicroMax-007 HF 管电压:20Kv到50Kv 管电流:大于30mA 靶:铬、铜、 探测器:CCD探测器 像素点数:3300 × 2500 像素尺寸:0.27μm到4 μm主要应用:电子材料学生命科学半导体矿物探险开采

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面探微区X射线衍射仪D/max RAPID

面探微区X射线衍射仪D/max RAPID

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: D/max RAPID
  • 产地:日本
  • 仪器简介: 测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。 技术参数 1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶) 2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm 范围为-60度 +144度3. 一次收集2 4. 专用观察样品的CCD摄像头 5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um) 6. 入射端前置单色器 7. 附件齐全 主要特点: 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性 2. 薄膜样品的物相分析 3. 织构分析 4. 应力分析 5. 纤维分析 6. 高温测试

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理学智能XRD SmartLab

理学智能XRD SmartLab

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: SmartLab
  • 产地:日本
  • 【产品所获奖项】-- SmartLab系列X射线衍射仪获得 2006 R&D 100 Award 技术创新奖SmartLab:先进的高分辨测量与简单操作  TheSmartLab高分辨衍射系统是最先进的全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统,选配的in-plane扫描臂、9kW转靶发生器,全自动光学系统实现先进的测量。  SmartLab为薄膜和其他材料的全自动分析而设计。向导提供支持,理学的知识作为软件包的基础,SmartLab充分开发的测量软件包用于薄膜,纳米材料,粉末和液体的全自动测量。测量包为粉末衍射,掠入射衍射,in-plane衍射,X射线反射率和小角X射线衍射(SAXS)测量而存在。特点θ/θ设计,样品可以水平放置为高分辨扫描而采用的闭环驱动系统可选的9.0kW转靶发生器全部系统自动调整向导软件全自动分析的基础300mmwaferhandling专利的CBO技术使聚焦光与平行光自动切换,无需重新配置In-plane衍射臂用于in-plane测量无需重新配置高分辨光学系统SAXS能力【制造商和产品历史介绍】理学优德w88创立于1923年,是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一。1951年正式创立理学电机株式会社,十年后1962年又创立理学电机工业株式会社,此后又相继创立了理学计测株式会社、日本仪器株式会社、理学服务株式会社和株式会社理学等机构。

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理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: Ultima Ⅳ
  • 产地:日本
  • 光学系统调整自动化大幅缩短简化了切换光学系统所需的时间和程序,提高整体效率;CBO技术具有高度灵活性应用于所有粉末多晶材料评价样品位置自动调整,和In-Plane测试相结合高分辨率的应力选择取向测试简便化CBO技术和无需更系统的In-Plane扫描实现最强的薄膜评价系统新开发的In-situ可以在特殊条件下测试利用CBO和自动调整装置,仅添加附件即可对纳米材料小角散射测试主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

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便携式X-射线衍射仪

便携式X-射线衍射仪

  • 品牌:
  • 型号: XRD-BTX
  • 产地:美国
  • XRD-BTX的独特性便携式:整机质量12.5kg,一体机设计,无任何机械移动部件集成性:XRD与XRF技术集成,可同步对样品进行XRD及XRF分析,提供物质成分、物相及结构信息简便性:包括仪器操作的简便性和样品制备的简便性。仪器操作一键式按钮设计,无需校正,自动检测,无需额外关注和小心高压系统和水循环冷却系统(仪器无额外高压和水循环冷却系统);样品制备无需制片、压片、刮平等,只需经过粉碎、滤筛、装样三步,整个过程只需3分钟无线传输:仪器自动产生局域网络,通过WIFI与笔记本电脑实现无线连接,可实现远程操控和数据传输,也可通过数据线有线连接较好的环境适应性:专为美国火星计划地质考察而研制,仪器可防防震动低廉的维护成本:低功率X射线管,可延长射线管功率(正常使用10年),无需使用水循环冷却系统,节约能源XRD-BTX功能及应用XRD-BTX广泛应用于地质矿产、石油岩心录井、化工、水泥、医药、环境土壤、刑侦、考古、海关检测、材料研究等。可提供快速的物相定性定量分析、晶格常数分析、应力分析、XRF定性分析。使用XRD-BTX所得的锂电池正极材料-LiCoO2的X射线衍射谱图: 使用XRD-BTX对土壤样品做矿物成分分析拟合谱: XRD-BTX的优点1. 样品制备简单通常,XRD试验要求样品研磨成细微粉末然后压片成型,这是因为衍射实验的样品中需要有足够任意取向的微晶。BTX引入了解决这个问题的专利技术。这样通常只需15毫克的样品,BTX使样品在样品室里产生复杂的振荡运动。这样,BTX可以使样品在X光线下呈现无数多的晶体取向。这导致了高质量的X光衍射谱,基本上杜绝了在衍射实验中经常遇到的晶体择优取向问题。2. 独创样品振动装置INNOV-X优德w88为解决一般小角衍射仪样品测试时取样不均匀等特点,结合优德w88多年研究的最新成果,彻底解决了粉末衍射仪取样不均的不足。 3. XRD与XRF技术集成采用了专门研发的直接激发CCD,BTX能够同时接受X光的衍射信号和荧光信号。这是由于这一特殊的CCD能够同时探测光子的位置和光子能量。200ev(5.9Kev)的能量分辨率使得BTX在做XRF分析时像浏览光谱显示一样实时和简单。4.无线连接BTX依靠其自身系统,用户通过无线连接来使用操作系统(802.11b/g)。这种独特的操作方式很大程度上提高了设备控制和数据处理的灵活性以及多用户同时操作的便捷性。XRD-BTX性能参数型号XRD-BTX机体规格尺寸300 x 170 x 470mm重量12.5 kg供电系统交流电变压器110V / 200V ,波动<10%X光管光管类型Co/Cu可根据用户选择其他靶材管电压30kv管电流300uA功率10wX射线发生器输出功率90w射线防护磁性联锁装置及辐射防护屏辐射能级<0.5 mRad/Hr样品振动系统(取代测角仪NASA专利)振动频率6000Hz角度范围5- 55°(2θ)最小步长0.001° 2θ样品要求m~15mg /d<150um探测器类型2D CCD面探测器面积1024 x 256 pixels制冷2D Peltier效率>98%XRD分辨率0.25°(2θFWHM)数据收集系统仪器操作系统基于 OS 的Linux操作系统内存容量40Gb数据处理系统电脑配置独立于仪器,根据使用需要选择分析软件XPOWDER数据库PDF/ AMCSD使用环境温度-10° 35°C防震动

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XD-2/XD-3/XD-6自动X射线粉末衍射仪

XD-2/XD-3/XD-6自动X射线粉末衍射仪

  • 品牌:
  • 型号: XD-2/XD-3
  • 产地:
  • 仪器简介:X射线衍射仪是应用面最广的X射线衍射分析仪器。主要用于固态物质的物相分析,晶体结构分析,材料的织构分析,晶粒大小、结晶度、应力等的测定。 XD-2型X射线衍射仪是北京普析通用仪器有限责任优德w88最新推出的、具有自主知识产权的国产新型衍射仪,填补了国内在立式X射线衍射仪产品上的空白,结束了国内衍射仪产品近十几年来无重大改进的局面。 国家教育部科技成果鉴定中心于2002年12月27日对此成果组织了鉴定,鉴定委员会由中科院院士梁敬魁先生等9位专家、教授组成。鉴定会专家对此产品的研发成功十分称赞。鉴定会的主要鉴定结论如下:“XD2的关键技术指标已达到国外同类设备水平,性能稳定,工作可靠。此外,开发了多个专用软件,使工作效率明显优于装配通用软件的进口设备。鉴定委员会专家认为该产品在常规粉末X射线分析工作中完全可以替代进口产品,建议在国内推广应用。鉴定委员会一致同意通过鉴定。 技术参数:1.测角仪扫描半径:180mm, 扫描方式:θ/2θ或θ/θ, 扫描轴:水平 2.测角仪角度重现性:0.0006度 3.X射线发生器kV、mA稳定度:优于0.01% 4.X射线发生器额定功率:3kW 主要特点:1.结构新,XD-2型衍射仪的测角仪采用立式结构,中空轴,X射线管座与测角仪结构上一体化,是一种新型的先进国产衍射仪; 2.衍射角测量精度高,测角重现性达0.0006度; 3.长期运行稳定性好,经用户长期(8个月)使用监测,石英101衍射角测制的标准偏差为0.0015度; 4.完全中文图形界面的衍射仪控制软件、衍射数据处理软件以及一些衍射分析应用软件,多种结合国内用户的专业需要编制的专用X射线分析用软件; 5.可提供多种衍射仪常有的附件和配套设备,如:石墨弯晶单色器;布莱格科技的创新产品平行光路薄膜附件,较之现有的同样用途的附件,衍射强度高2~3倍;配有专为实验室用户配套的带有双压缩机的高可靠、低噪音型循环。

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X射线衍射仪

X射线衍射仪

  • 品牌: 日本岛津
  • 型号: XRD-6000
  • 产地:日本
  • 仪器简介:XRD-6000适用于各种形式及状态的样品,包括难于固定的样品,例如粉末及薄膜等,发及易溶的样品。 XRD-6000具有标准配置的,适用于X射线衍射的重要分析工作定性分析的自动检索/匹配软件。设置详 细的检索参数,二次检索功能,以及在原始数据的峰形上与候选物质的对比显示。使用此系统定性分析可 以达到很高的成功率。另外,系统中包括有简易的定时计算功能与结合无素数据的功能。技术参数:XRD-6000 技术规格: X光管:型号 Cu,NF型 焦斑 1.0*10mm ; 2.0*12mm 最大功率 2KW ;2.7KW X射线发生器:最大功率 3KW        输出稳定性 ±0.005%(电源波动10%) 最大管电压 60KV 最大管电流 80mA 电压步宽 1KV 电流步宽 1mA X光管保护 过载,过电压,过电流,冷却水异常 安全机构 门连锁机构(确认门关闭后,产生X射线),紧急关机 测角仪:类型 垂直型 测角仪半径 185mm 最小步进角度 0.001°(θ),0.002°(2θ) 角度重现性 ±0.0001°(2θ) 扫描范围 -6°~163°(2θ),-180°~180°(θ) 扫描模式 θ/2θ联动模式,θ、2θ独立驱动模式 检测器计数系统:检测器 闪烁晶体计数器(Nai闪烁晶体) DSP 32位 机柜:体积 W900*D700*H1600mm主要特点:◆高精度垂直型测角仪 ◆标准配置多功能自动检索/匹配软件(定性分析) ◆设备功能日常维护容易 ◆本质安全和紧凑的外观

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智能X射线衍射仪

智能X射线衍射仪

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: SmartLab系列
  • 产地:日本
  • 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶 2、测角仪为水平测角仪 3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利) 4、测角仪配程序式可变狭缝 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利) 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利) 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS) 8、多用途薄膜测试组件 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件 10、In-Plane测试组件(理学独有) 11、入射端Ka1光学组件 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下) 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线) 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利) 主要特点 智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

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组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: Ultima IV系列
  • 产地:日本
  • 仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪UltimaIV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 技术参数 1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有) 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件(理学独有) 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

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台式X射线衍射仪(便携式衍射仪)

台式X射线衍射仪(便携式衍射仪)

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: MiniFlex 600
  • 产地:日本
  • 仪器简介: Miniflex 600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。 主要特点: 台式X射线衍射仪MiniFlex600,外型小巧方便,具有近于高端分析仪器的测试性能,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域,是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析;Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查,劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪;Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。 * 打破以往X射线分析仪器常规,以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准; * 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计,使仪器移动、安装均能简单自如完成,可充分调整光学系统; * 安装后接入电源即可开始使用,操作简单,初学者也能轻松自如; * 具有超高性价比的MiniFlex 600,为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数 1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm,高700mm,深395mm;重量约80kg。 2. 功率600W,强度大大提高(上一代产品MiniFlexII最大功率450W)。 3. 测角仪精度高、放置样品方便。 4. 测角仪配程序式可变狭缝,改善低角度P/B,提高高角度强度。 5. 安全设计,放置样品时自动关闭X射线。 6. 软件丰富 7. 附件可配: 计数端单色器,扣除Kβ、荧光X射线,提高P/B比 旋转样品台 隔绝空气。水蒸气样品台 六样品自动交换器 高速一维阵列探测器D/teX Ultra2 主要的应用软件有: 1. 多重记录 2. 定性分析 3. 定量分析 4. ICDD数据库管理 5. 环境粉尘专用定量软件

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小分子单晶X射线分析装置

小分子单晶X射线分析装置

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: XtaLAB P200
  • 产地:日本
  • 主要特点 新一代小分子单晶X射线分析装置。PILATUS是新一代探测器,以前仅仅用于同步辐射。其卓越的性能可以将测量时间缩短到以前的20%(与CCD比较)。 PILATUS在室温状态使用,环境要求宽松,半导体探测器,免维护,低使用成本。 仪器采用微聚焦X射线发生器,大大提高小晶体的测试能力。 技术参数 1、使用PILATUS 200K全新平面探测器 测量时,可以连续扫描,不需要关闭快门,直到数据采集完成;不像传统的IP或CCD需要不停开闭快门 惊人的动态范围,可以达到106photons/pixel 无暗电流,无噪音,可以长时间曝光 高灵敏度,可以得到高S/N 像素172um,它可以准确地解决重叠问题 半导体探测器,免维护,常温使用 2. 测角仪包括 Partial Chi(χ) Fixed Chi(χ) three-axis AFC-Kappa four-axis 3、光源可以提供 3 kW sealed tube MicroMax003 DualSource (MicroMax003 Cu + MicroMax003 Mo) MultiMax9 MicroMax007HF MicroMax007HF-DW(Cu/Mo) 4. 选件,可以提供低温装置

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台式小分子单晶X射线分析装置

台式小分子单晶X射线分析装置

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: XtaLABmini
  • 产地:日本
  • 仪器简介: XtaLABmini的出现,标志先进的台式X射线单晶衍射技术时代的到来; 仪器技术先进,操作简单,为学生和研究者提供测试分析平台; 不需要培训,通过自动测量软件及自动分析软件,可以得到精确的小分子结构数据。 技术参数: 1. X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W 2. 光学系统:SHINE 3.χ:固定在54 4. Φ :-360,沿样品中心轴自由旋转 5. ω :2θ±90 (-60~120 ) 6. 2θ:固定30 7. 70倍CCD摄像头观察样品 8. 照相距离:50mm 9. 探测器:CCD 10. 探测面积:Φ75mm 11. 像素尺寸:73.2μm/146.4μm 12. 像素点数:1024x1024/512x512 13. 读取时间:2.24sec/0.56sec 14. 暗电流:0.1electorns/pixel/sec 15. 选件,可以提供低温装置 主要特点: XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。 实现小型化,充分发辉理学的技术优势,是世界上最小的单晶衍射装置。 自动测试、自动分析。即使没有相关经验,也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。 使用新型CCD探测器,读取数据时间大幅度降低,通常2~3小时可以完成晶体的数据采集。 有极高的性能价格比,保养简便,使用成本低。

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面探微区X射线衍射仪

面探微区X射线衍射仪

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: D/max RAPID
  • 产地:日本
  • 仪器简介: 测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。 技术参数 1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶) 2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm 范围为-60度 +144度3. 一次收集2 4. 专用观察样品的CCD摄像头 5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um) 6. 入射端前置单色器 7. 附件齐全 主要特点: 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性 2. 薄膜样品的物相分析 3. 织构分析 4. 应力分析 5. 纤维分析 6. 高温测试

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强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列

强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: TTR III系列
  • 产地:日本
  • 仪器简介: 强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是当今最高档次的商品化X射线衍射仪。 强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 主要特点: 强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 技术参数 1. X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有) 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件(理学独有) 11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 12. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

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强力转靶全自动X射线衍射仪D/max2500

强力转靶全自动X射线衍射仪D/max2500

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: D/max 2500
  • 产地:日本
  • 仪器简介:理学标准型全自动X射线衍射仪D/max2500继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准,许多X晶体学家伴随着D/max一起成长,D/max也陪伴着晶体学家而发展,D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。主要特点:标准型全自动X射线衍射仪D/max2500配上相应的附件,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

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Bruker D8 AdvanceX射线衍射仪

Bruker D8 AdvanceX射线衍射仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: D8 Advance
  • 产地:德国
  • Bruker D8 AdvanceX射线衍射仪首个真正的多功能 X 射线粉末衍射衍射解决方案新设计的 D8 ADVANCE(带DAVINCI 设计)致力于将操作安全、使用便利和用户安全融为一体。硬件、电子元件和软件的完美结合,使得X 射线粉末衍射领域的所有应用皆可在这台设备上完美实现。新的 D8 ADVANCE ECO新推出的 D8 ADVANCE ECO 是 D8 XRD 家族中的最新成员。她不仅继承了 D8 产品系列的优秀性能,而且具有很好的可扩展性和可升级性。达芬奇设计D8 ADVANCE(带DAVINCI 设计)的智能光路元件具备真正的即插即用功能,使得用户很少或几乎不用做任何干预。自动化、免工具的衍射几何切换,无需进行复杂的调整,使得 D8 ADVANCE(带DAVINCI 设计)可以为更多领域的 X 射线衍射用户提供更多的分析功能。再加上“最佳数据保证”(即“校准保证”和“检测器”保证),可以确保操作安全。新软件 DIFFRAC.SUITED8 ADVANCE(带DAVINCI 设计)配备了全新 DIFFRAC.SUITE 软件。即插即用功能可持续执行:安装在仪器上的组件可以根据相关参数自动识别。DIFFRAC.SUITE提供直观的操作和图形化界面,经过量身定制可以满足操作员的需求,并且具备其前身DIFFRACplus的先进算法 确保使用简单便利。

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Bruker D8 VENTURE X射线单晶衍射仪

Bruker D8 VENTURE X射线单晶衍射仪

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: D8 VENTURE
  • 产地:德国
  • D8 VENTURE 提供最高的试验灵活性,可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用最好的组件进行高度模块化设计,并且具有完全气冷配置。D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内,还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。因此,D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供最好的结构。产品特点:密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动,维护量低细丝经预先结晶和预先校准测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪,确保即使是最小的样品,也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳符合最严格的辐射安全规范符合新机械指令

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Bruker N8 Horizon X射线小角散射仪 SAXS

Bruker N8 Horizon X射线小角散射仪 SAXS

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: N8 Horizon
  • 产地:德国
  • Bruker N8 Horizon X射线小角散射仪 SAXS用于先进材料研究的紧凑型小角度 X 射线散射仪全新 N8 HORIZON 采用创新、紧凑型垂直仪器设计,因此,相比传统的水平小角度 X 射线散射仪 SAXS ,其优势明显,包括操作简易、样品处理方便、占用空间小,以及购置成本低。N8 HORIZON 是一款强大的高端研究和多用户设施工具,用于研究固体体积、纤维、表面或生物样品中的各种纳米材料。采用先进技术获得高品质数据,测量时间短IμSTM 微焦点 X 射线源能够极大地提高样品上 X 射线的强度二维 V?NTEC-500TM 探测器甚至能够探测最微弱的 SAXS 信号革新的 SCATEXTM 零散射针孔为 X 射线光束质量设定新的基准

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X射线衍射仪 XRD-7000S/L型

X射线衍射仪 XRD-7000S/L型

  • 品牌: 日本岛津
  • 型号: XRD-7000S/L
  • 产地:日本
  • 岛津XRD-7000型X射线衍射仪采用θ/θ扫描方式,样品水平放置,可提高不同类型样品的应对能力,如松散的粉末样品、大型的零器件样品等,扫描角度范围-12°~164°,可满足从低角度至高角度范围的物相分析;测角仪半径200mm~275mm可变,适用性更强,应对不同要求的测试方法;独立的X射线光管控制系统,提高光管使用寿命的同时,也降低了操作人员接触X射线辐照的几率,达到本质安全防护等级;产品特点:采用强大的多毛细管平行光束系统,可对应凹凸不同的样品的分析,扩大应用范围。不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。

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X射线衍射仪 XRD-6100型

X射线衍射仪 XRD-6100型

  • 品牌: 日本岛津
  • 型号: XRD-6100
  • 产地:日本
  • X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。配备高精度垂直型测角仪,适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。岛津X射线衍射仪XRD-6100 采用θ/2θ扫描方式,岛津特有的全聚焦弯晶后单色器,具有世界最高的X射线衍射效率,达到50%以上;技术参数: ●X射线发生部 3kW  ●测角仪 θ-2θ联动,θ、2θ独立   ●动作范围 2θ:-6° ~ 163°  ●数据处理部 Windows 7

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奥龙Along X射线晶体分析仪(X-RAY NDT)

奥龙Along X射线晶体分析仪(X-RAY NDT)

  • 品牌: 丹东奥龙
  • 型号: JF-2000型
  • 产地:
  • 用途Function X射线晶体分析仪用于研究物质内部微观结构,如:单晶定向,检测缺陷,物质定性,测定点阵参数,测定残余应力等 X射线发生器 ●管电压:10-60KV由单片机自动控制(lkv/step) ●管电流:5-80mA由单片机自动控制(lmA/step) ●管电压,管电流稳定性≤0.03%; ●PLC模块控制,设定参数,定时关机 ●额定输出功率:3KW ●有无压,无流,过压,过流,过功率,无水,X射线管超温分配保护 冷却循环系统 自带制冷系统,无需外接循环水,并自动控制水温具有水温显示水压,水流量保护功能。 采用不锈钢水泵,噪音为20分贝,并避免水锈的产生,不使X射线管堵塞 X射线防护罩 ●采用高密度,高透光性的铅玻璃作为X射线防护装置,外射线泄漏量不大于2.5μsv/h ●X射线管靶材:Cu,Fe,Co,Cr,W,Mo任选其一 ●额定功率:2KW ●焦点尺寸(mm):点焦点(0.1x0.1),线焦点(0.1x0.1) ●额定电压:60KV ●额定电流:80mA ●可配置德拜相机、劳厄相机或其他型号国产进口相机。

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奥龙Aolong X射线衍射仪(X-RAY XRD)

奥龙Aolong X射线衍射仪(X-RAY XRD)

  • 品牌: 丹东奥龙
  • 型号: AL-3000型
  • 产地:
  • 仪器简介:AL-3000型衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的,是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。●硬件系统和软件系统的完美结合,满足不同应用领域学者、科研者的需要?xml:namespace>●高精度的衍射角度测量系统,获取更准确的测量结果●高稳定性的X射线发生器控制系统,得到更稳定的重复测量精度●程序化操作、一体化结构设计,操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器:●未知样品中一种和多种物相鉴定●混合样品中已知相定量分析●晶体结构解析●非常规条件下晶体结构变化(高温、低温条件下)●材料表面膜分析●金属材料织构、应力分析技术参数:型号AL-3000标定功率3kW管电压10-60kV管电流5-80mAX射线管玻璃管、陶瓷管、波纹陶瓷管:Cu、Fe、Co、Cr、Mo等功率2kW焦点尺寸1×10mm或是0.4×14mm或是2×12mm稳定度≤0.01%测角仪结构卧式(θ-2θ)衍射圆半径185mm测量范围0-164扫描速度0.0012°-70°min最高转速100°/min扫描方式θ-2θ联动,θ、2θ单动;连续或步进扫描角重复精度1/1000°最小步进角度1/1000°探测器正比(PC)或闪烁(SC)最大线性计数率5×105CPS(带有漏计数补偿功能)能量分辨率≤25%(PC)、≤50%(SC)计数方式微分或是积分方式、自动PHA、死时间校正系统测量稳定度≤0.01%散射线剂量≤1μSv/h(X射线防护装置外)仪器综合稳定度≤0.5%外形尺寸1100×850×1750mm X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料,广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。●基于θ-θ几何光学设计,便于样品的制备和各种附件的安装●金属陶瓷X射线管的应用,极大提高衍射仪运行功率●封闭正比计数器,耐用免维护●硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率,测量速度提高3倍以上●丰富的衍射仪附件,满足不同分析目的需要●模块化设计或称即插即用组件,操作人员不需要校正光学系统,就能正确使用衍射仪相应附件光学系统转换 不需要拆卸索拉狭缝体,就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点,不需要重新调整仪器,就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。 早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器,光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构,就可以实现光学系统的转换。数据处理软件包括以下功能 基本数据处理功能(寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Ka1、a2剥离、衍射线条指标化等);●无标准样品快速定量分析●晶粒尺寸测量●晶体结构分析(晶胞参数测量和精修)●宏观应力测量和微观应力计算;●多重绘图的二维和三维显示;●衍射峰图群聚分析;●衍射数据半峰宽校正曲线;●衍射数据角度偏差校正曲线;●基于Rietveld常规定量分析;●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析;●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析;AL-3000型衍射仪除了基本功能外,可快速配置各种附件,具有超强的分析能力 高精度的机械加工,使附件安装位置的重现性极大地提高,实现即插即用。不需要对光路进行校准,只要在软件中选定相应的附件就可以实现特殊目的测量。多功能样品架 随着材料研究的深入,越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试,每一种测试功能都有相应的计算软件。●碾轧板(铝、铁、铜板等)织构测量及评价●金属、陶瓷等材料残余应力测量●薄膜样品晶体优先方位的评价●大分子化合物取向测量●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析 织构使材料呈现各向异性,利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能的潜力,是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多,但是最广泛应用的还是X射线衍射技术。更多测量数据以及光学图请参照优德w88网站:www.aolongcn.cn

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EUROPE 台式X射线衍射仪

EUROPE 台式X射线衍射仪

  • 品牌:
  • 型号: EUROPE
  • 产地:意大利
  • 仪器简介 EUROPE 是一款台式的X 射线衍射仪,配备了θ/2θ 粉末衍射系统,可对多晶材料进行定性和定量的分析。EUROPE 可以提供标准衍射仪的配置和其它选项配置,台式设计最大程度上发挥了仪器的灵活性,同时可提供可靠的分析数据。 主要特点■ 定性和定量的晶相分析,结晶度计算,晶体参数、晶体尺寸和晶格应变监测,定量测定样品中残余奥氏体;■ 小尺寸和高稳定性设计保证了衍射仪可以在较小的空间安装和操作;■ 超紧凑型的测角仪,在步进电机上增加光学编码器,确保了超高的角度位置精确性; ■ 可以安装玻璃或陶瓷材质的射线管,具有高重现性和稳定性聚焦位置;■ 具有多种类型的样品台,可以满足不同的实验需求。

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EXPLORER 多功能X射线衍射仪

EXPLORER 多功能X射线衍射仪

  • 品牌:
  • 型号: EXPLORER
  • 产地:意大利
  • 仪器简介 EXPLORER 在几乎所有的分析领域都有着出色的性能,例如可以测量混合物质的相态;可以检测微观的结构性质,例如薄膜或块状样品中的残应力和晶体取向等。其模块化设计,更是为仪器提供了广阔的升级空间,通过升级仪器可以满足新的分析需求。 主要特点■ 直接传动高精度转矩马达与优势的光学编码器相结合,确保了仪器的传动速度和精度;■ 全部组件可以拆分为7个模块,同时可以在5个独立自由度上检测样品,适用于全部的粉末、薄膜和块状样品;■ 可以进行常规的晶相识别和定量,可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算;■ 可以定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析;■ 光学系统可以在Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或抛面镜单色器自由切换;■ 高分辨的反射技术,让检测厚度精确至1-500nm,几何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,从而可以进行薄膜或层次分析;■ 将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合,并安装在入射光束上,可以获得高强度、低散射适合高分辨率测量的平行单色光;■ 强大,简便的操作软件实测检测工作更加简单,软件同时具有许多先进的功能,可以帮助用户对复杂的谱图进行分析。

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